對測試工程師而言，增加的頻率、新的封裝技術與數量更多的天線，意味著難以在保有高品質之際，同時避免資本設備成本（測試設備成本）與作業成本（測試每個裝置的時間）攀升。新的OTA技術有助解決這些問題，但也同樣帶來挑戰。第一項難題是量測準確度。

雖然5G技術測試的挑戰看來複雜，但是全球工程師皆已著手開發新的測試儀器與OTA等新測試方式。

NI商務與科技研究員Charles Schroeder指出，不同於接線式測試，由於天線校準與準確度、治具設備容錯範圍與訊號反射等因素，讓測試工程師在進行 OTA 量測時，需因應額外的量測不確定性。第二項難題，則是必須將新量測作業整合至裝置測試計畫中，以進行電波暗室整合、波束特性驗證、最佳編碼簿計算與天線參數特性參數描述作業。第三項難題是，隨著RF頻寬持續增加，在這些大頻寬中進行校準與量測的處理需求亦隨之漸增，因此測試時間延長的問題也益發令人擔憂。

最後一項難題是，測試管理人員必須做更多商業考量，以在確保產品品質之際，盡量不對上市時間、資本成本、作業成本與樓面空間(為了容納OTA室) 造成影響。在接下來數年間，測試與量測業界將會使用眾多創新方式迅速回應前述挑戰。測試團隊應考量高靈活度的軟體定義測試策略與平台，藉此確保目前的資本支出能跟上如此快速的創新週期步調。雖然OTA帶來了挑戰，但同時也帶來優點。

首先，OTA是唯一適合 AiP 技術的選擇，因為天線陣列會整合至封裝內，不會直接以連接線連接至陣列元件。即使測試工程師能使用傳統測試方式接觸個別天線元件，仍會面臨困難抉擇，必須決定要採用平行測試（需使用較多儀器，因此會產生資本支出）或序列測試（會產生測試時間與產能方面的作業支出）。雖然現在尚有許多技術問題需要解決，但是 OTA 測試提供了以系統而非以一組獨立元件來測試陣列的方式，可望更為提升系統層級測試的效率。

Charles Schroeder說，過去測試設備供應商與測試工程師曾起身迎接挑戰，在對更高效能與複雜度進行測試之際，力求將上市時間與測試成本壓至最低；現在，他們也會以相同態度因應5G技術的挑戰。雖然目前5G技術測試的挑戰看來複雜，但是全球工程師皆已著手開發新的測試儀器與 OTA 等新測試方式；5G 技術要在商業上獲致成功，這些工具與技術都不可或缺。