致茂電子半導體測試設備事業部日前表示，為因應半導体產業蓬勃發展所需大量測試需求的發展，該事業部提供客戶在量測上完整的解決方案。己成功開發出的記憶体測試產品線，提供記憶体模組廠生產線上快速、準確的檢測。目前正積極開發per-pin架構為主，工作頻率達50MHz的邏輯IC測試系統，具有精準、快速、平行測試測試等特色，幫助客戶提高生產效率，降低成本。未來更將進一步開發混合訊號測試功能，以符合SOC之發展需求。同時引進Hitachi70/140MHz之邏輯IC測試系統，提供中高階邏輯IC的完整測試解決方案。在特殊材料事業部與日鐵微金屬(NMC)技術合作，所生產之金線符合細線化、長跨距和窄幅距等最新焊線技術，鍚球則具有高需疲乏性、低幅性等特性，可滿足客戶對BGA、CSP等封裝材料的需求。致茂電子半導體測試設備事業部並且表示，此次配合2001年台灣半導体設備暨材料展的舉辦，該公司將於9月17~19日期間，於台北世界貿易中心展覽一館（攤位編號2938）展出半導体量測儀器相關之測試系統儀器海報及提供半導体封裝用的金線與鍚等。