Anritsu安立知，宣佈國立臺灣大學光電工程學研究所採用Anritsu安立知領先市場的MS2850A系列的頻譜分析儀/訊號分析儀平台，成功應用於垂直共振腔面射型雷射（Vertical-Cavity Surface-Emitting Laser；VCSEL）測試，並且搭載與臺大光電所吳肇欣教授團隊共同開發的自動測試軟體，進行雷射相對強度雜訊（Relative Intensity Noise；RIN）的驗證，為VCSEL元件開發提供自動測試方案，並將持續合作共同推動VCSEL產業發展。

臺灣大學與安立知共同開發 RIN 自動測試驗證系統

由於光發射元件的發展突飛猛進且其性能優劣將會直接影響到數位及類比光通訊系統的整體效能，RIN參數評估的重要性也將與日俱增。隨著光纖傳輸系統朝向高速與多模發展，在高性能、多波長及高集成度雷射的評估中，如何快速完成RIN特性的量測將是一大挑戰。

MS2850A訊號分析儀是一款高階的訊號與頻譜分析儀組合，可支援頻率範圍為9 kHz至32 GHz或44.5 GHz，其具備卓越的動態範圍、振幅與近端相位雜訊性能，精準的平均顯示雜訊位準（DANL）適用於高速光電子元件的微小雜訊量測。藉由多種波長的光電轉換器選擇，可以實現全頻域 RIN 快速精準量測的目的。

臺灣大學光電所吳肇欣教授表示：「大數據與生物感測需求迫在眉睫，刺激光通訊與3D感測導入VCSEL速度不斷加快，Anritsu安立知不僅提供了完整且穩定的測試平台，同時也有優秀的技術人員，協助我們的團隊共同開發RIN自動測試驗證系統，並且成功運用於VCSEL測試，期許未來持續合作以因應廣泛的雷射應用量測需求。」

Anritsu台灣區總經理陳逸樺表示：「很高興國立臺灣大學持續信賴Anritsu安立知通訊設備的先進技術，這次的合作由國立臺灣大學光電工程研究所提供計算原理及量測架構，與Anritsu安立知工程部和軟體部門共同開發完成RIN的自動量測方案，除了採用 MS2850A/MS2840A/MS2830A系列訊號分析儀外，也整合相關的量測設備，大幅縮短產品測試驗證時間，使得RIN的測試更為快捷便利。」