帳號:
密碼:
最新動態
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 新聞 /
惠瑞捷蟬聯VLSI Research十大最佳測試設備獎
 

【CTIMES/SmartAuto 林佳穎 報導】   2008年07月22日 星期二

瀏覽人次:【6322】

半導體測試廠商惠瑞捷(Verigy) 在VLSI Research市場研究公司2008年的客戶滿意度調查中,榮獲十大最佳測試設備獎。惠瑞捷在「產品性能」及「測試結果的品質」兩大類獲得最高的評價,惠瑞捷旗下的Inovys則在13個評比類別中,有7個獲得最高分數,名列第一。VLSI Research公司每年都會進行這項客戶滿意度調查,並根據半導體製造設備使用者就13個設備性能和客戶服務類別,對供應商評比所得的結果予以排名。

VLSI Research公司的執行長G. Dan Hutcheson指出:「惠瑞捷 (現在包含Inovys) 自獨立營運以來,在我們的十大最佳測試設備獎項中,年年榜上有名。惠瑞捷優異的設備性能與測試結果的品質備受客戶肯定,此外,惠瑞捷在系統單晶片 (SoC) 測試的技術領先地位也有目共睹。在這些類別表現優異通常代表領先測試設備的同業,非常恭喜惠瑞捷和Inovys榮登十大最佳測試設備。」

惠瑞捷股份有限公司總裁暨執行長龐恩凱表示:「再次獲得VLSI的十大最佳測試設備獎令我們感到十分驕傲,尤其Inovys更是名列榜首。我們的客戶始終非常重視及珍惜惠瑞捷的品牌、性能、服務、以及多年來彼此攜手建立的合作關係。」

關鍵字: 惠瑞捷  VLSI Research  G. Dan Hutcheson  龐恩凱  半導體製造與測試 
相關新聞
愛德萬:PXI對ATE毫無威脅可言
尋求成長動能 ATE業者跨足系統測試市場有譜?
可攜式產品錙銖必較 3D IC量測工夫再上層樓
惠瑞捷宣佈收到愛德萬的修訂後併購提案
創意電子已採用惠瑞捷SoC測試系統
comments powered by Disqus
相關討論
  相關文章
» 最佳化大量低複雜度PCB測試的生產效率策略
» 確保裝置互通性 RedCap全面測試驗證勢在必行
» ESG趨勢展望:引領企業邁向綠色未來
» 高階晶片異常點無所遁形 C-AFM一針見內鬼
» 高速傳輸需求飆升 PCIe訊號測試不妥協


刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.1.HK8BP9GSQG0STACUKG
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw