西门子旗下业务Mentor近期宣布，推出新的Tessent软体安全生态系统━这是Mentor透过合作夥伴结盟，所提供的最隹汽车IC测试解决方案的完备产品组合。该计划可协助IC设计团队满足全球汽车产业日益严格的功能安全要求。

相较於业界其它以封闭、单一来源模型为基础的计画，Tessent Safety生态系统提供了强大的替代方案。Mentor的开放式生态系统做法可确保IC测试的功能安全，使晶片制造商可以把Mentor的IC测试技术与其他最隹的解决方案结合在一起，以实现更完整、更高效能的最终解决方案。

西门子旗下业务Mentor Tessent产品??总裁暨总经理Brady Benware表示：「对於要缩短故障侦测和启用晶片上安全机制之间的时间来说，快速的系统内IC测试效能至关重要。为加速IC测试效能，汽车IC设计人员日益需要把包括可测试性设计 (DFT) 和非DFT技术等所有的晶片上安全机制紧密结合 ━ 而此作法正是Mentor全新Tessent Safety生态系统的基础。」

透过与Mentor领先合作夥伴的深度合作，Tessent Safety生态系统正快速扩展，其中包括：

．Mentor内建自我测试（BIST）技术，包括具备观测扫描技术（Observation Scan Technology）的新型Tessent LBIST（LBIST-OST）解决方案，这是专为大幅缩短汽车IC中数位逻辑元件的系统内监视运行时间所设计的。新的Tessent LBIST-OST解决方案可协助客户满足严格的汽车功能安全要求，与传统的逻辑BIST技术相比，系统内测试时间最多可缩短10倍。

．具有全面自动化流程的TessentMemoryBIST，可在RTL或闸级提供设计规则检查、测试计划、整合和验证功能。由於Tessent MemoryBIST采用阶层式（hierarchical）架构，使BIST和自我修复功能可增加到各个核心以及顶层。

．提供自动化和晶片上IP结合的TessentMissionMode产品，可在车辆功能运作期间的任何时间点对整个汽车电子系统中的半导体晶片进行测试和诊断。

．用於类比、混合讯号（AMS）和非扫描数位电路的TessentDefectSim电晶体级缺陷模拟器。Tessent DefectSim可测量缺陷覆盖率和公差，是大量和高可靠性IC的理想选择。

．Mentor叁与了Arm功能安全合作夥伴计划（AFSPP）。MentorTessent Safety生态系统采用 Arm Safety Ready IP功能，例如Cortex -R52处理器，可把即时执行与任何Arm处理器中最高程度的整合式功能安全以及先进的hypervisor技术结合在一起，以简化软体整合，并可提供坚固的分隔功能，保护攸关安全性的程式码。

．Mentor的汽车级自动测试型样产生（ATPG）技术，可侦测传统测试型样和故障模型经常遗漏的电晶体和互连级缺陷。

．此生态系统亦与Mentor的Austemper SafetyScope和KaleidoScope产品紧密连结，它们增加了先进的安全分析、自动校正和故障模拟技术，可解决随机的硬体故障。Austemper技术会分析设计者的RTL中的错误和弱点，并具备智慧故障注入功能，有助於安全机制遭遇覆盖的故障时，能以预期方式做出反应。透过平行化和分散式操作方法，专有的加速演算法可用来实现比标准闸级故障注入技术高好几个数量级的加速。

瑞萨电子是Mentor Tessent Safety生态系统中关键技术的早期采用者，该公司在设计其最新的汽车处理器时评估了Mentor的新Tessent LBIST-OST解决方案。

「利用新Tessent LBIST-OST解决方案中的Observation Scan技术，我们能把系统内Logic BIST的测试时间缩短5倍，因此实现了更快的覆盖率扩展，」瑞萨电子公司IoT和基础建设业务处共享研发EDA部数位设计技术组总监Hideyuki Okabe表示，「这使我们能在把Logic BIST作为安全机制时缩短容错时间间隔（FTTI），并在侦测汽车产品中的新缺陷时改善安全回应。我们将持续在我们的汽车产品中采用这项技术。」

Tessent Safety生态系统中的Mentor Tessent产品是Mentor Safe计划的一部分，该计划是最广泛、最全面的ISO 26262认证计划之一。