Tektronix宣布总部位于台湾的IT测试公司百佳泰,已选择Tektronix Serial ATA II(SATA II)验证测试解决方案,包括高效能的实时示波器及任意波形产生器,进行SATA II兼容性测试。此新的Tektronix高速串行测试平台,可让百佳泰以最高的准确度、效率与可靠性,进行要求最严苛的兼容性测试任务。
|
SATA II验证测试解决方案 |
百佳泰为亚太区测试服务供货商,其实验室为第一批获SATA-IO授权的正式Serial ATA标准测试的实验室之一。近年来,科技的发展使得兼容性测试任务的数目急遽增加,这些任务牵涉到像是SATA、HDMI与PCI-Express的先进串行数据标准。因此,在日益复杂的测试和上市时间的压力下推出新产品,需要一个更强大的兼容性测试平台。百佳泰为了扩大其量测需求,选用新型Tektronix AWG7102任意波形产生器(世界上最快速的波形产生器)、15 GHz TDS6154C(超高效能的实时示波器,为设计用来撷取高达6 Gb/s的新一代串行标准,例如PCI-Express 2.0、SAS与SATA III的最高频率码型第5谐波),以及20 GHz DPO72004(世界上最高效能的实时示波器)进行标准兼容性测试。
在此次购买Tektronix的仪器前,百佳泰的测试平台已整合了如 TDS6804B 示波器与 AFG3000 信号源等设备,此测试平台可以让实验室针对来自亚太区数以千计的制造商与设计师的 IT 产品,执行兼容性测试。
Tektronix技术解决方案团队总监Jit Lim表示:「我们很高兴拥有与百佳泰的长期合作关系。随着高速串行数据设计到数字RF这些技术领域的快速进展,我们对精密测试工具的需求也愈来愈多。Tektronix的高效能测试量测仪器和软件,让我们的客户能够扩充其新数字环境所需的功能。」