随着芯片功能越趋丰富多元，系统设计逐渐超越电路板架构，迈向采用多个系统单芯片 (SoC) 的架构，手持与消费性电子装置的开发人员面临了更为严苛的接脚与封装限制。身为IEEE 工作小组的主要成员，德州仪器 (TI)宣布将致力于推动 IEEE 1149.7 标准的认证。其全新双接脚测试与除错接口标准，可支持使用 IEEE 1149.1 技术半数的接脚，让开发人员可轻松针对具备复杂数字电路、多颗 CPU 及应用软件的产品，如行动与手持通讯装置等，进行测试与除错。除了领导 IEEE 1149.7 新标准的发展与采用之外，TI 也和Freescale Semiconductor、Lauterbach Datentechnik GmbH、IPExtreme、ASSET InterTech, Inc.、Corelis 及 GlobeTech Solutions 等公司合作，厘清实作挑战，确立简易而稳健的解决方案，可供业界广泛采用。

IEEE 1149.7 为已被广泛采用超过20年的 IEEE 1149.1 (JTAG) 标准的进阶标准。此项新标准可做为嵌入式系统装置制造、测试与软件开发的埠口，并预计将于 2009 年初获得认证。此外，此项新标准不但与 IEEE 1149.1 兼容，更改善除错功能，降低系统单芯片接脚数的需求，并且统一省电标准，简化多芯片模块与堆栈芯片装置的制造，同时具备传输仪器数据的能力。