是德科技（Keysight）日前推出Keysight U4305B PCI Express协定试验器，以协助工程师加速开发PCIe Gen3系统。 U4305B试验器提供各式各样的PCIe测试工具，可用来验证所有链路（多达16 个）的Gen1、Gen2 和Gen3 运作效能。这些工具可满足PCIe 开发人员的广泛需求，所提供的测试方法可测试NVMe（Non-Volatile Memory Express）和L1子状态运作等新技术。

试验器内含L1子状态验证软体让开发人员有效改善PCIe装置的电源效率

在部署PCIe的初期阶段，开发人员就必须持续关注低功率状态这项重要特性。现在，PCIe为测试超低功耗（称为L1 子状态）制订了新标准。该标准使用旁波带信号CLKREQ#，可关闭时脉甚至消除保持电压（keeper voltage），让新的PCIe装置能提供前所未有的高功率水准。 Keysight U4305B试验器以验证这些低功耗特性为设计宗旨。内建的测试平台方便工程师对PCIe或NVMe操作部署自动化测试。该测试平台配有脚本程式，可验证ASPM 或PCI-PM L1 子状态的操作。这些预先编写的测试脚本可针对各种状态提供试验，以获得关于控制暂存器操作，和每个进入L1 子状态/恢复操作的通过/不通过测试结果。

Keysight U4305B 还提供LTSSM 测试套件，让工程师能执行链路协商测试，进而对待测装置（DUT）的LTSSM 功能进行全方位测试。此外，它还可验证PCIe 状态转换和状态逾时，最多可提供超过50 种预设LTSSM 测试，以便深入评估DUT的运作。

台湾是德科技总经理张志铭表示：「Keysight U4305B 试验器为PCIe 开发人员提供了更高水准的测试功能。PCIe 装置的研发需要深入的洞察力，我们的客户需要强大的工具来协助他们开发最先进的产品。」

测试NVMe时，Keysight U4305B试验器可模拟主机或装置，以便送出并执行NVMe命令，或是产生错误测试序列。透过标准化的NVMe测试，开发工程师不仅可改善装置之规格相符性、增强其互通性，同时还可经由各项测试深入洞察装置的运作情形，进而缩短测试时间。是德科技采用美国新罕布夏大学（UNH）互通性实验室（IOL）所定义的NVMe相符性测试。这些测试可提供「通过/不通过/警告」等测试结果，以及详细的诊断资讯，以便改善NVMe验证品质。

是德科技另亦提供PCI SIG定义的协定测试卡，让工程师能获得完整的通过/不通过测试结果，以便验证PCIe装置之运作情形。 PCI-SIG测试插拔大会亦使用相同的PTC测试套件。

工程师可配置Keysight U4305B试验器，借以对传统和新一代PCIe装置的子协定层进行测试和除错。 U4305B PCIe试验器是先进的讯务产生器，方便开发工程师发送和回应TLP、DLLP和实体层封包，以激发PCIe装置和系统。

Keysight U4305B 还能够与U4301B PCIe 协定分析仪等其他仪器搭配运作，以建构完整的测试系统。工程师可以同步分析仪和试验器的测试运作，甚至可用U4301B 分析仪撷取资料，然后在U4305B试验器中播放。

是德科技针对PCIe 分析仪和试验器提供增强特性，让工程师能获得更齐备的测试工具。例如，是德科技加入了L1 子状态测试、资料播放和测试同步，以支援更全面而深入的PCIe装置测试与验证。 Keysight U4305B 协定试验器现已开始供货。