致茂电子开发内存模块测试设备已有六年历史, 于二年半前成立半导体测试设备事业处, 结合内存及逻辑IC测试技术, 自行开发及代理销售半导体测试设备, 提供适合台湾厂商研发、生产、质量验证及维修之 Total solution。致茂电子并将于10月30日举办『DDR SDRAM测试相关技术研讨会』, 邀集国内知名内存模块厂商参加, 并邀请美国 Triadspectrum 总经理 Bill Chan公开针对未来市场趋势的看法及新技术研发之成果, 计划将新技术提供产业界人士使用。