账号:
密码:
最新动态
 
产业快讯
CTIMES/SmartAuto / 新闻 /
R&S将与Intel共同举办物联网测试技术论坛
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2016年05月30日 星期一

浏览人次:【4276】

罗德史瓦兹(Rohde & Schwarz, R&S)与技术伙伴Intel 将于6月13日在德国慕尼黑举办物联网测试技术论坛(IoT Test Day),会中邀请多位物联网领域专家为您介绍最新的物联网技术趋势,以及随之而来大量的相关测试需求。

罗德史瓦兹将与Intel共同举办物联网测试技术论坛
罗德史瓦兹将与Intel共同举办物联网测试技术论坛

未来将有数十亿的装置透过无线连接方式和物联网串连。随着物联网产业蓬勃发展,新的通讯技术也正快速导入,以因应物联网多样化应用的种种特殊需求;这种低成本的连接方式也符合优化物联网测试解决方案中对于高安全性、可靠性和全方位实用性的相关要求。

论坛中将提供物联网模组、设备和应用程式开发人员一个绝佳的机会,针对技术发展趋势、测试挑战和解决方案等议题进行交流。 R&S将从物联网无线设备和应用程式实际测试的角度来回答开发人员们最想了解的问题。同时,物联网专家们也将实际操作R&S仪器进行各种相关测试。

更多訊息及報名資訊,請瀏覽:www.rohde-schwarz.com/iot-test-day (更多讯息及报名资讯,请浏览:www.rohde-schwarz.com/iot-test-day)

關鍵字: 物联网测试  技術論壇  羅德史瓦茲  R&S  Intel  測試系統與研發工具  无线通信测试 
相关新闻
R&S与IMST专利天线数位孪生解决方案 优化汽车无线连结
英特尔针对行动装置与桌上型电脑AI效能 亮相新一代Core Ultra处理器
英特尔与AMD合作成立x86生态系谘询小组 加速开发人员和客户的创新
R&S在欧洲微波周展示光子学6G超稳定可调太赫兹系统
说比做容易? 解析高通意图并购英特尔背後的深谋与算计
comments powered by Disqus
相关讨论
  相关文章
» 最隹化大量低复杂度PCB测试的生产效率策略
» 挥别制程物理极限 半导体异质整合的创新与机遇
» 确保装置互通性 RedCap全面测试验证势在必行
» 融合航太与无线生态 NTN打造下世代网路
» ESG趋势展??:引领企业迈向绿色未来


刊登廣告 新聞信箱 读者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3  v3.20.1.HK8BA0VFNZGSTACUKY
地址:台北数位产业园区(digiBlock Taipei) 103台北市大同区承德路三段287-2号A栋204室
电话 (02)2585-5526 #0 转接至总机 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw