(日本东京讯)半导体测试设备供应商爱德万测试 (Advantest)推出新的功能「SmartShell」以延伸了旗下产品V93000的操作系统SmarTest的支援能力。此桥接软体能让V93000单一可扩充测试平台与电子设计自动化 (EDA) 环境直接沟通，後者包括来自西门子 (Siemens) 旗下事业体Mentor的Tessent Silicon Insight软体。现在，EDA工具可以透过线上网路远端连接测试机、传送要执行的测试图样(Test Pattern)、修改，并且直接取得结果和系统错误资讯，而不用再经过层层格式转换。

爱德万测试V93000系统导入SmartShell软体，直通测试平台、缩短型样测试上线时间，实现先进晶片除错与错误分析。(source:ELE Times)

传统上，设计工程师要先设计出测试图样，然後从模拟环境进行SCAN、JTAG与BIST的验证，并储存成STIL格式。接着要把图样转成特定测试格式，然後在测试机(ATE) 上执行，再把结果以STDF或TXT档案的格式传送回设计部门。整个过程可能十分耗时，尤其为新晶片设计量产测试图样时，往往需要往返好几次。

SmartShell让外部设计验证工具或程式脚本能直接将图样发送至测试机，执行、搜集结果，有需要的话还可以修正，全都只要透过一组简单的指令便能完成，能支援多种脚本和程式语言。如此一来便能大大缩短新元件初始图样的测试上线周期，也使内部JTAG (IEEE 1687) 和其他可测试性设计 (DfT) 技术得以发挥强大的除错和资料搜集能力。

爱德万测试V93000行销??总Ralf Stoffels表示：「藉由建立从DfT到ATE之间简洁而直接的路径，我们能协助客户用更少的时间了解日益复杂的元件。除了开发可应用於V93000的测试解决方案以外，我们的T6391产品团队也正在为该平台研发类似的桥接软体。与此同时，我们持续与EDA夥伴保持密切合作，目标是推出能满足各大客户需求的整合性解决方案。」

西门子旗下Mentor事业体Tessent产品家族资深行销主任Brady Benware亦表示：「为了因应晶片测试上线的各种复杂问题，关键是与客户、还有像爱德万测试这样的业界夥伴合作。将Silicon Insight与ATE-Connect延伸至爱德万测试的V93000系统後，可将原本数周的晶片测试上线时间大幅缩短为数日。」

爱德万测试与Mentor在5月14~15日於美国亚利桑那州斯科茨代尔 (Scottsdale) 登场的VOICE开发者大会，展示如何运用SmartShell软体，连接Mentor的Tessent Silicon Insight工具和V93000测试机。