帳號:
密碼:
最新動態
 
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 新聞 /
延續投資效益 晶圓廠投資測試軟體不手軟
 

【CTIMES/SmartAuto 報導】   2011年09月25日 星期日

瀏覽人次:【2249】

對於量測業者來說,測試系統新舊版本相容性是新版本能否成功的關建之一。量測業者吉時利致力於讓新測試系統高度相容於較早的系統,以支援吉時利參數測試客戶。推出的新版本測試環境(KTE)半導體測試軟體--KTE V5.3,是專為配合程式控制監控方案產品線S530參數測試系統使用所設計。預估可保持高度的軟體相容性可使轉移路徑更為平順,並能保護晶圓廠的測試軟體投資。

測試開發和執行軟體平台KTE,全球有數百家半導體晶圓廠採用。吉時利進一步將KTE測試開發和執行環境擴展至S530系統。S530儀器提供程式控制監控等參數測試應用要求的高速和廣泛測量範圍。現在,吉時利的S530測試系統利用這個經過業界長期驗證的軟體平台在最嚴苛的生產環境中實現了靈活的測試計畫開發和高速測試。

對於已經使用KTE較早版本的客戶來說,新版本加速並簡化了測試系統到測試平台的整合。首先,同一種測試方法和方案適用於所有吉時利自動參數測試系統,縮短了跨系統的學習過程,而且在測試平台上增加新的高速系統,或取代較早版本的的轉換路徑。再者,使用者只需重新編譯和重新建立舊有的用戶資料庫,只需進行少量除錯,就能在新版本繼續使用這些資料庫。

再者, KTE V5.3簡化了建立條件測試順序的新用戶擷取點(user access point;UAP)原始碼,並制訂新版本的系統工作流程。為早期吉時利系統開發的UAP原始碼在少量的調整下,適用於新系統。而所有 KTE工具對吉時利所有參數測試平台都提供完全相同的功能。也就是說,現有吉時利S400和S600系列參數測試儀用戶,可以將現有的測量程式輕鬆轉移到S530,而且現有測試儀和新的S530系統可以共用同一個測試計畫。

S530的KTE適合在標準工業PC的Linux作業系統上運作,運作KTE V5.3的S530系統能實現程式控制監控、過程可靠監控和元件特性分析要求的全部直流I-V和C-V測量。

相關新聞
調查:社群平台有顯著世代差距 35歲以上為FB重點用戶
宜特再獲USB-IF授權 全面領航USB4、PD 測試
末代川普回鍋 中經院示警須留意供應鏈二次移轉
意法半導體公布第三季財報 業市場持續疲軟影響銷售預期
資策會四項創新技術勇奪ASOCIO DX AWARD獎項
comments powered by Disqus
相關討論
  相關文章
» 最佳化大量低複雜度PCB測試的生產效率策略
» 確保裝置互通性 RedCap全面測試驗證勢在必行
» ESG趨勢展望:引領企業邁向綠色未來
» 高階晶片異常點無所遁形 C-AFM一針見內鬼
» 高速傳輸需求飆升 PCIe訊號測試不妥協


刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.2048.3.22.61.180
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw