致茂電子光電儀器事業部於12/ 14於林口廠舉辦之"LED量測技術"研討會。由該事業部副總經理馮清章先生主持，並特請工研院量測中心儀器發展組田立芬研究員主講" LED光學特性與量測規範"。最後由該事業部實機展示新發表之7630 LED自動測試系統。其中演講大綱涵蓋有LED光源特性、光輻射學、光度學與色度學簡介、LED量測規範、量測設備介紹與比較等內容。

會中參與人員針對LED之光性與電性量測及自動化品質管理，均有廣泛而深入的探討。其中特別對Chroma 7630依據「國際照明協會」(CIE)規範之LED量測標準設計開發，並能以每顆LED 0.18秒的快速量測速度進行生產線自動化量測及品質管理分析，有詳盡的說明及現場實際操作解析。國內各大LED製造商的與會人員皆對該產品有深刻的印象，並對其功能給予十足的肯定。是以可預期在Chroma 7630正式進入市場後，必定能為各LED廠商大幅提昇製程良率及作最有效的自動化品質管理，以提昇台灣廠商於國際市場的競爭力。

致茂電子光電儀器事業部願景，係成為世界級光/ 色及影像量測儀器及系統之提供者。開發之產品除LED自動測試系統外，尚包括了LCD、OLED、CRT色彩分析儀、CIS自動檢測系統、Front Projector自動測試系統以及各型實體影像顯微檢視儀。此次的研討會充分說明了致茂電子在光及色彩的量測方面所擁有的實力及其協助相關製造廠商品質管理提昇良率的貢獻。