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NS在 DesignCon 2001展示高速低電壓差動訊號傳輸晶片
具更強勁效能、更高度整合的技術、創新的封裝設計以及片上測試能力

【CTIMES/SmartAuto 黃明珠 報導】   2001年01月31日 星期三

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越來越多主機板介面及數位系統採用更高頻寬、更快傳輸率以及更低功率消耗的設計。有鑒於此,美國國家半導體 (NS)於DesignCon 2001 展覽會上推出一系列全新的高速低電壓差動訊號傳輸 (LVDS) 晶片,以滿足這方面的需求。美國國家半導體最新推出的 LVDS 系列產品不但效能更卓越、整合度更高以及封裝設計更為精巧,而且更具備片上測試的功能,適用於電訊和資料通訊系統、行動電話基地台及上網設備。LVDS 技術適用於主機板線路較為密集的高速、低功率應用方案,可支援這些系統進行點對點及一點對多點的資料傳輸。

美國國家半導體在展覽會上展出多款產品,其中包括可支援 IEEE 1149.1 JTAG (聯合測試行動組織) 標準、並可進入晶片邊界進行掃描測試的 LVDS 晶片系列的首款產品。由於廠商可以利用邊界掃描技術直入晶片的四周邊界進行測試,因此可擴大故障偵測範圍,加強結構及互連測試的能力。IEEE 1149.1 標準對連接每一晶片的標準測試進出埠的 4 線數位介面均有特別的規定。

關鍵字: 美國國家半導體(NS
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