帳號:
密碼:
最新動態
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 新聞 /
愛德萬將展示5G技術的最新IC測試解決方案
 

【CTIMES/SmartAuto 報導】   2019年07月10日 星期三

瀏覽人次:【4042】

愛德萬測試(Advantest Corporation)將於7月9~11日,藉舊金山莫斯康展覽中心(Moscone Center)登場的2019 SEMICON West半導體設備展,向業界展示最新IC測試產品,包括V93000 Wave Scale Millimeter解決方案。

愛德萬測試全球行銷傳播副總Judy Davies表示:「我們十分榮幸能藉由這次機會,向大家展示最新產品組合。業界欲實現5G通訊,關鍵先進IC必不可少,而愛德萬測試不僅能解決先進IC的測試挑戰,更能加速從人工智能/機器學習、智慧製造到智慧城市,各類尖端技術的發展。」

產品展示

愛德萬測試將展示最新Wave Scale Millimeter解決方案,開創業界首款高度整合、模組化多部位毫米波 (mmWave) ATE測試方案,能以最佳成本效率,測試5G-NR毫米波元件,範圍達70GHz。這套系統具備多頻毫米波頻率測試所需要的多部位並行測試能力與多重功能,協助客戶縮短最新毫米波頻率產品設計的上市時程。

愛德萬測試亦安排了特別的汽車展示,向大家說明T2000系列測試機如何協助客戶,提升從感測器、處理器、動力傳動到通訊系統各類汽車元件的效能和可靠度。

除此之外,攤位上還將運用數位圖像介紹其他產品,包括針對系統單晶片 (SoC) 系統級測試的Advantest Test Solutions (ATS);提升整體生產力與測試品質的一系列軟體工具與服務;針對SATA、 SAS和PCIe Gen 4固態硬碟 (SSD) 系統級測試的MPT3000 平台;以及瞄準DRAM、

3D Xpoint和快閃記憶體元件的T5500系列與T5800系列。

技術發表

除了靜態展覽以外,愛德萬測試亦與SEMICON West同時舉辦的「年度測試願景論壇」(Test Vision Symposium) 扮演要角。愛德萬測試業務開發主任Derek Floyd將出任論壇副主席;系統規劃資深主任Kotaro Hasegawa則將以「最新SiP封裝趨勢與測試挑戰」(New SiP Packaging Trends and Testing Challenges) 為題發表演說,並參與同一天登場的海報發表。

人才培育

展望未來,愛德萬測試將再次擔任「SEMI High Tech U」學習營的共同贊助商。與SEMICON West一同舉辦的學習營活動為期三天 (7月9~11日),目的是幫助對於科學、科技、工程與數學 (STEM) 有濃厚學習興趣的高中生更了解半導體產業,並透過參觀展覽攤位、近距離接觸產業現況,探索未來職涯可能。

愛德萬測試的工作人員將帶著學員進行各種課程模組,內容涵蓋工程設計、批判性思考和社群媒體,並練習模擬面試,亦將負責主持最後一天的活動。

關鍵字: 5G  愛德萬 
相關新聞
上海馬拉松深度採用5G-A技術 實現沉浸式觀賽體驗
2025手機市場競爭加劇 5G晶片與AI運算將成為各廠商研發重點
Nokia:6G預計於2030年實現商用化
越南迎向數位轉型新里程 2030年實現99%的5G覆蓋率
研究:生成式AI與差異化連接將影響5G下階段發展
相關討論
  相關文章
» CTIMES編輯群解析2025趨勢
» 雙臂協作機器人多元應用與創新商業模式
» 在邊緣部署單對乙太網
» Microchip Switchtec PCIe® Switches工程人員開發及管理的好幫手
» 半鑲嵌金屬化:後段製程的轉折點?


刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2025 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.2048.18.189.188.199
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw