帳號:
密碼:
最新動態
 
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 新聞 /
華邦電子選中惠瑞捷測試快閃記憶體晶圓
 

【CTIMES/SmartAuto 林佳穎 報導】   2008年12月17日 星期三

瀏覽人次:【6924】

惠瑞捷(Verigy) 宣佈,快閃記憶體供應商華邦電子 (Winbond) 已採購多套Verigy V5400快閃記憶體測試系統,供台中廠使用,以測試SpiFlash序列式快閃記憶體的晶圓。這些記憶體採用序列週邊介面 (SPI),廣泛使用於PC、行動電話和其它行動裝置中。

V5400針對快閃記憶體的晶圓測試,提供多達4608個I/O通道,且每套系統可以做彈性的配置,最多可測試144個元件。因此,相較於傳統的快閃記憶體測試系統,可以大幅降低測試成本。V5400採用彈性的第五代Tester-Per-Site®架構,可以讓製造商測試各式各樣的記憶體元件。

關鍵字: 惠瑞捷  華邦電子  半導體製造與測試  快閃記憶體 
相關新聞
華邦與微軟合作打造碳排資訊平台 加速實現台灣淨碳永續願景
華邦電子TrustME安全快閃記憶體結合ARM平台安全架構
愛德萬:PXI對ATE毫無威脅可言
尋求成長動能 ATE業者跨足系統測試市場有譜?
華邦電子進軍車用快閃記憶體市場
comments powered by Disqus
相關討論
  相關文章
» 最佳化大量低複雜度PCB測試的生產效率策略
» 確保裝置互通性 RedCap全面測試驗證勢在必行
» ESG趨勢展望:引領企業邁向綠色未來
» 高階晶片異常點無所遁形 C-AFM一針見內鬼
» 高速傳輸需求飆升 PCIe訊號測試不妥協


刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.1.HK8BE79JMD0STACUKD
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw