帳號:
密碼:
最新動態
 
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 新聞 /
Tektronix AWG7000訊號產生器獲最佳測試獎
 

【CTIMES/SmartAuto 劉筱萍 報導】   2007年01月16日 星期二

瀏覽人次:【2746】

測試、量測和監控儀器廠商Tektronix,宣布該公司的兩項產品,經由Test & Measurement World雜誌編輯群遴選,獲得2007年業界最佳測試產品獎。其中AWG7000任意波形產生器榮獲最佳測試獎,成為獲得這項殊榮的12個產品中的其中之一,並因此使這項產品成為年度最佳產品的最後入圍者。此外,DPO4000 系列示波器也榮獲該項競賽的佳作獎。這個獎項設立的目的,在於表揚將傑出創新技術帶入測試業的各項產品。

AWG7000訊號產生器
AWG7000訊號產生器

Test & Measurement World總編輯Rick Nelson表示:「創造、產生、或複製各種理想的、扭曲的、或是『真實的』訊號能力,都是設計及測試過程中的必要條件。我們的編輯群很高興選出AWG7000,做為12個年度「最佳測試產品」的其中之一。」

Tektronix訊號資源產品線行銷經理Bob Buxton表示:「我們很榮幸能在年度評選的過程中,受到Test & Measurement World雜誌編輯群的肯定。我們十分珍惜他們對我們在業界的認可,因為這象徵了對 AWG7000 訊號產生器獨特貢獻的肯定。AWG7000是全球最快的任意波形產生器,專為因應測試高速串列資料匯流排,以及寬頻數位RF裝置等需求而設計。」

關鍵字: 太克(TektronixBob Buxton  通用設備 
相關新聞
太克混合訊號示波器獲年度設計與測試產品入圍
Tektronix為歐洲轉播車提供強力高畫質監控功能
太克獲選參加Cable & Satellite International決賽
Tektronix 2007年HDMI設計與驗證論壇即將登場
重構「使用與滿足」 太克走向客製化的未來
comments powered by Disqus
相關討論
  相關文章
» 最佳化大量低複雜度PCB測試的生產效率策略
» 確保裝置互通性 RedCap全面測試驗證勢在必行
» ESG趨勢展望:引領企業邁向綠色未來
» 高階晶片異常點無所遁形 C-AFM一針見內鬼
» 高速傳輸需求飆升 PCIe訊號測試不妥協


刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.1.HK8BE7NWY9USTACUK5
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw