Mentor Graphics於12月18日宣佈，科雅科技（Goyatek Technology）已採用它的可測試設計（DFT）工具，做為科雅可測試設計服務流程標準。Mentor的MBISTArchitect記憶體內建自我測試工具和BSD Architect邊界掃描自動化工具都是技術領先產品，可協助科雅持續加強他們的可測試設計能力，這也是科雅選擇它們的主要原因。

科雅是以台積電為基礎的SoC/ASIC設計製造代工服務（Turnkey Service）和IP矽智財供應商，擁有傑出工程能力來支援台積電先進製程技術，並以此廣獲業界認可，在台積電設計服務聯盟中，科雅是第一家同時支援和完成0.18及0.25微米設計的廠商；由於科雅必須支援這些複雜的設計製程技術，他們的客戶又會使用各種不同設計流程，因此科雅需要更強大的可測試設計工具，以便提供更高的測試覆蓋率、彈性和創新的全速（at-speed）測試能力，確保客戶得到更準確測試結果，進而提升最終產品的品質。

科雅CAD部門主管Nai-Yin Sung表示，他們必須支援複雜設計流程和矽智財，因此需要最先進工具和測試技術。Mentor GraphicsR擁有業界最好的可測試設計工具，它們又可加入任何設計流程，這對科雅和客戶都非常重要。MBISTArchitect和BSDArchitect工具為科雅帶來一組完整功能，使他們得以節省時間，提供最高的測試品質。

MBISTArchitect工具包含MBIST Full-Speed功能，它採用Mentor正在申請專利的管線化處理技術，可同時把測試資料輸入目標系統、從目標系統讀取這些資料、並且比較執行結果，使傳統的「全速」測試能更快完成；這項功能可大幅縮短測試應用時間，使測試資料的重複使用性更高，並產生更高品質的測試結果。BSDArchitect工具可將邊界掃描電路的實作自動化，大幅減少研發過程的所須時間；這套工具還包含彈性的測試存取埠合成引擎，可支援任何邊界掃描組態，徹底測試元件的內部結構，例如記憶體內建自我測試、嵌入式核心和矽智財。