越來越多主機板介面及數位系統採用更高頻寬、更快傳輸率以及更低功率消耗的設計。有鑒於此，美國國家半導體 (NS)於DesignCon 2001 展覽會上推出一系列全新的高速低電壓差動訊號傳輸 (LVDS) 晶片，以滿足這方面的需求。美國國家半導體最新推出的 LVDS 系列產品不但效能更卓越、整合度更高以及封裝設計更為精巧，而且更具備片上測試的功能，適用於電訊和資料通訊系統、行動電話基地台及上網設備。LVDS 技術適用於主機板線路較為密集的高速、低功率應用方案，可支援這些系統進行點對點及一點對多點的資料傳輸。

美國國家半導體在展覽會上展出多款產品，其中包括可支援 IEEE 1149.1 JTAG (聯合測試行動組織) 標準、並可進入晶片邊界進行掃描測試的 LVDS 晶片系列的首款產品。由於廠商可以利用邊界掃描技術直入晶片的四周邊界進行測試，因此可擴大故障偵測範圍，加強結構及互連測試的能力。IEEE 1149.1 標準對連接每一晶片的標準測試進出埠的 4 線數位介面均有特別的規定。