半导体测试设备供应商爱德万测试 (Advantest Corporation) 将於8月7日至9日假加州圣克拉拉会议中心 (Convention Center) 举行的年度快闪记忆体高峰会 (Flash Memory Summit) 上，展示针对PCIe Gen 4固态硬碟 (SSD) 的最新解决方案，采用的是其MPT3000测试机台；此外亦将於会上发表两篇技术论文。

爱德万测试将展示业界首款针对PCIe Gen 4 SSD之开发与制造而设计的单一系统测试解决方案，采用其MPT3000平台。此款完全整合的系统将能帮助客户加速次世代SSD产品的上市期程，其优势在於运用了爱德万测试PCIe Gen 3测试解决方案业已通过严谨验证的测试架构和软体，并且免除了等待第三方Gen 4应用广泛商用的时间。鉴於上述优点，爱德万测试得以为SSD制造业者开拓一条风险最低、速度最快的产品上市途径。

爱德万测试技术专家将於本届峰会发表两篇技术论文。

在8月8日 (三) 上午8:30登场的201-1「测试/效能分析」(Testing/Performance Analysis) 议程中，Linden Hsu将以「诊断发生於测试期间的SSD故障问题」(Diagnosing SSD Failures During Testing) 为题发表演说，分享如何藉由搜集、分类和分析来自DUT与测试设备的资讯，找出装置故障的原因。

接着，在8月9日 (四) 上午8:30举行的301A-1「测试议题」(Testing Issues) 议程中，Sneha Nadig将针对「双埠NVMe SSD测试」(Testing Dual-Port NVMe SSDs) 做分享，涵盖具备多讯号路径且能同步连结两个主机的装置，这类装置性能在企业存储市场大获青睐。