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IBM成功在碳奈米管中量测到电荷
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2007年11月01日 星期四

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外电消息报导, IBM日前宣布,已能在碳奈米管中成功量测到电荷,并藉此得知更多关于碳奈米管的电气性质,有助于未来的实际应用发展。

IBM科学家表示,这项突破是使用电子和声子交互作用所取得的。他解释,声子是原子内部振动所产生的物质,能够藉此得知材料的热性能和电导率;而电子则运送和产生电流。透过了解电子和声子在碳奈米管内的交互作用,IBM的研究人员已找到一种更好的方式来寻找更好的半导体材料。

IBM奈米管研究负责人Phaedon Avouris博士表示,透过这项新技术,我们将可以了解碳奈米管的电学性能,并在奈米结构的特性和制造能力上进行突破。

由于碳奈米管对环境影响非常敏感,很容易被外来物质改变碳奈米管的特性,因而影响电流和改变性能。这些交互作用是局部的,并能改变多种设备中一个集成电路,甚至一个单一奈米管的电子密度。因此,能在一个奈米管内测量局部电子密度变化,了解环境将如何影响一个碳奈米管的电荷,将可制作出更多高性能的晶体管。

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