账号:
密码:
最新动态
 
产业快讯
CTIMES/SmartAuto / 新闻 /
信号完整性问题成奈米IC设计最大挑战
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2004年05月14日 星期五

浏览人次:【872】

据EE Times网站报导,在2004年电子设计流程研讨会(Electronic Design Processes 2004 workshop;EDP-2004)中,奈米制程下的IC的讯号完整性问题成为会中讨论焦点。安捷伦(Agilent)微处理器设计方法经理Jay McDougal表示,该公司ASIC产品部门首次由0.13微米制程进入90奈米芯片设计时,即遭遇到严重的讯号完整性问题。

该报导指出,包括串扰引发的延迟、尖刺和功率噪声等问题在90奈米时代都更为严重,使设计收敛难于实现。尽管目前市面上有EDA工具可解决以上问题,但真正的解决方案还在于方法论和教育方面。设计师需要为讯号完整性收敛留更多时间,对问题有更好的了解和认识,采用讯号完整性避免技术及深入到事件背后来进行分析。

除安捷伦之外,东芝也在奈米制程遭遇困难;该公司遇到的最大问题是讯号完整性引起的设计改变。东芝系统单芯片设计技术经理Takashi Yoshimori表示,更精确的讯号完整性及其延迟变化分析成为重要关键;目前,东芝采用CeltIC用于串扰分析,以及Cadence的 VoltageStorm SoC用于IR压降分析。

EDA业者也对这样的现象表示赞同,Cadence时序和讯号完整性市场部总监Jim McCanny即表示,一些与制程相关的问题使90奈米的讯号完整性变得恶劣;在0.13微米,75%的电容器有可能来自于相邻线路,而在90奈米,这个数字变成了80%。看起来差别不大,但实际上却影响甚巨。

相关新闻
调查:社群平台有显着世代差距 35岁以上为FB重点用户
宜特再获USB-IF授权 全面领航USB4、PD 测试
末代川普回锅 中经院示警须留意供应链二次移转
意法半导体公布第三季财报 工业市场持续疲软影响销售预期
资策会四项创新技术勇夺ASOCIO DX AWARD奖项
comments powered by Disqus
相关讨论
  相关文章
» STM32MP25系列MPU加速边缘AI应用发展 开启嵌入式智慧新时代
» STM32 MCU产品线再添新成员 STM32H7R/S与STM32U0各擅胜场
» STM32WBA系列推动物联网发展 多协定无线连接成效率关键
» 开启边缘智能新时代 ST引领AI开发潮流
» ST以MCU创新应用技术潮流 打造多元解决方案


刊登廣告 新聞信箱 读者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3  v3.20.1.HK8BA95TTD0STACUKW
地址:台北数位产业园区(digiBlock Taipei) 103台北市大同区承德路三段287-2号A栋204室
电话 (02)2585-5526 #0 转接至总机 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw