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工研院RRAM研发成果获国际电子组件研讨会肯定
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2008年09月22日 星期一

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工研院研发的电阻式非挥发性内存(Resistive Random Access Memory, RRAM)的研发成果,获选在2008国际电子组件会议(International Electron Devices Meeting, IEDM),向全球电机电子研发菁英发布最新技术进展。

RRAM具有下世代非挥发性内存的潜力而备受业界关注,预计在未来有机会取代闪存(Flash)及DRAM。工研院电光所自2006年开始进行RRAM研发,此次发表的RRAM研发进展包括:操作功率远低于目前已发表的RRAM,最低可达23奈安培的电流及1.5V的低电压特性;操作时间也极为快速,可达10奈秒以下,媲美DRAM操作速度;具有5个电阻态,可进行多阶操作;读写次数可达106次;以及在200℃的温度下,数据可储存10年以上之优异特点。此外,还具有运用与业界高兼容性的高介电常数材料(high-K)及金属及制程结构简单之特点,突破现今运用铂等贵金属材料及复杂制程的RRAM,能快速实现RRAM移转业界进行量产之可能性。

關鍵字: RRAM  工研院  存储元件 
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