账号:
密码:
最新动态
 
产业快讯
CTIMES/SmartAuto / 新闻 /
R&S总裁:LTE终端认证测试不容忽视
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2009年04月02日 星期四

浏览人次:【2451】

罗德史瓦兹(Rohde & Schwarz,R&S)总裁兼首席营运长Mr.Christian Leicherk在西班牙巴塞隆纳2009年世界行动大会(Mobile World Congress 2009)期间,参与由中国移动(China Mobile)、沃达丰(Vodafone)与Verizon Wireless所主办的「全球LTE产业高峰会」,为量测仪器设备厂商唯一代表。

Mr.Christian Leicher就「LTE FDD和TDD(TD-LTE)终端认证及测试解决方案」发表公开演说,分享终端认证测试GSM/WCDMA在营运过程中的成功经验,并强调终端认证测试将成为LTE未来成功发展的重要依据,此外,说明身为各标准组织3GPP,LSTI,NGMN Alliance,GCF会员的R&S在LTE国际标准化中所做出的贡献与努力,最终介绍R&S LTE弹性、精准与快速的量测解决方案,以及对于LTE技术相关产品规划蓝图。

全球超过200家LTE相关供货商参与本次高峰会,并藉本次活动展现全球最大电信营运商在LTE之发展方针以及LTE FDD、TDD单芯片终端之愿景,并指出LTE产业发展关键在于上下游厂商相互合作,R&S表示,透过此次高峰会之盛况,对LTE未来发展深具信心。

關鍵字: LTE终端认证测试  LTE  羅德史瓦茲  Christian Leicher 
相关新闻
R&S与IMST专利天线数位孪生解决方案 优化汽车无线连结
R&S在欧洲微波周展示光子学6G超稳定可调太赫兹系统
R&Sm3 cetecom advanced 对 的紧急呼叫公共服务平台(PSAP)进行重新认证,并合作开发下一代紧急呼叫系统
R&S首度在MXO示波器上采用ASIC触发区技术 打破资料撷取速率纪录
R&S获USB-IF批准 可进行USB 3.2 Gen 1和Gen 2发射器与接收器一致性测试
comments powered by Disqus
相关讨论
  相关文章
» 最隹化大量低复杂度PCB测试的生产效率策略
» 确保装置互通性 RedCap全面测试验证势在必行
» 融合航太与无线生态 NTN打造下世代网路
» ESG趋势展??:引领企业迈向绿色未来
» 高阶晶片异常点无所遁形 C-AFM一针见内鬼


刊登廣告 新聞信箱 读者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3  v3.20.1.HK8BD5CQHIMSTACUKU
地址:台北数位产业园区(digiBlock Taipei) 103台北市大同区承德路三段287-2号A栋204室
电话 (02)2585-5526 #0 转接至总机 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw