安立知（Anritsu）聚焦次世代 — 2014 新一代高速串行电路与光通讯组件量测研讨会将于 2014 年 12 月 9 日及 12 月 10 日分别在台北及新竹举行，会中将针对高速传输市场趋势进行剖析，除分析既有 100GE 市场概况外，亦将与与会者分享未来 400GE 与 1TE之 技术发展状况，进一步探讨高速传输所遇到的讯号完整性问题、云端世代关键--高速主动光组件技术的发展方向，以及被动组件的量测技巧。

新兴云端应用的蓬勃发展，引领网络流量及传输接口速率大幅跃进，更带动了对 Data Center 的殷切需求，40/100G Ethernet、Infiniband EDR (26Gbps) 及 32X Fiber-channel 等高速传输接口因而如火如荼的发展，IEEE 与 ITU-T 亦进入 400GE & 1TE 相关规格的讨论阶段，象征传输接口将全面迈入超高速传输时代。

面对大量数据处理需求所带动的高速接口发展与设计测试的各项挑战，安立知提供高速主被动组件全面性的测试解决方案。「2014 新一代高速串行电路与光通讯组件量测研讨会」将针对云端应用所带动的相关高速传输规格与测试需求进行深入剖析，探讨高速传输所面对的信号完整性问题以及最新 100Gbps 抖动容限 (Jitter Tolerance) 测试架构解密，并特别邀请中央大学电机工程学系 许晋玮教授介绍高速关键光组件技术，以及光纤零组件大厂 GIP (光合讯科技) 项目经理张玮伦为您揭密 Coupler、Splitter 与 EDFA 等被动组件量测技巧。丰富实用的课程内容搭配现场安排多款兼具技术性能及成本效益全方位测试解决方案实机展示交流，清楚掌握最新的关键知识与技术。

时间 / 地点

台北场次：2014 年 12月09日(周二) 13:00~16:40 维多丽亚酒店 / 3楼维多丽亚厅

新竹场次：2014 年 12月10日(周三) 13:00~16:40 新竹老爷大酒店 / 6楼宴会厅