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安捷伦发表高速I/O SOC组件自动测试解决方案
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2004年11月18日 星期四

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安捷伦科技(Agilent Technologies)宣布推出全新自动化测试解决方案,可进行原速(At-speed)的功能测试,将高速、单芯片系统(SoC)组件的测试成本降低。该套完整的高速I/O解决方案是Agilent 93000 SOC系列的一部份,可针对速度高达3.6 Gbps之下一代PC芯片组等含有高接脚数(High-pin-count)的组件进行功能测试。这套解决方案的核心是安捷伦开发的Pin Scale 3600数字适配卡,可提供per-pin扩充性,范围从800Mbps到3.6Gbps,如此一来即可根据接脚数的要求,以最低的成本配置出合乎待测组件需求的测试系统。高速SoC组件目前已广泛地应用在计算机、消费性数字产品、通讯及网络产品中。

单一电子产品需要具备的功能愈来愈多,促使消费性产品不断地进行功能的整合,也使得数字家庭有了新的面貌。消费性电子产品愈做愈小、但功能愈加愈多的结果是SoC已变得空前复杂。由于消费性产品未来的整合速度与整合内容难以预料,因此测试设备必须具备测试速度更高、接口更多之SoC的扩充性和能力。在此同时,消费性电子产品持续不断的降价压力也促使厂商必须将测试成本尽可能地降到最低。

消费者对于数据密集的应用程序,如3D游戏和影像编辑等越来越多,使得下一代的SoC组件必须具备更快的处理速度和采用更高速的接口。设计下一代的SoC需使用深次微米(Deep Submicron)制程技术,如90奈米或更小,因此会产生新类型的瑕疵,便需要更快速、更准确的高速测试能力。诸如时序出错(Timing Failure)等奈米制程瑕疵只会出现在较高的频率,必须以原速进行测试。同样地,感应性串音(Inductive Crosstalk)和电子迁移(Electromigration)等信号完整性问题也无法透过目前的仿真方法找出来,而必须进行原速的功能测试才能解决。

Pin Scale 3600数字适配卡是依据Agilent 93000 SOC系列可扩充的平台架构所开发的,可透过软件升级的方式,重新配置每只测试接脚的速度,范围从800Mbps到3.6Gbps,以因应不断改变的测试需求。每只接脚都能提供单端式及差动式I/O测试能力,因此可测试相当多种接口,包括DDR、G-DDR、PCI Express、S-ATA、HyperTransport以及Front Side Bus(FSB)等。这样的配置弹性也让自动化测试设备可透过每只接脚的软件扩充,满足待测组件的测试需求,同时达到降低测试成本的目的。

安捷伦科技的高速I/O解决方案包含93000 SOC系列、Pin Scale 3600数字适配卡、以及相关的软件、服务和支持。这套解决方案可提供多种数据速率、内存和接脚数的配置选择。一套配置了超过600只Pin Scale 3600接脚的完整PC芯片组解决方案在售价上为业界最低。,其中包括超过250只速度达1.8或3.2 Gb/s的接脚,适用于PCI Express、FSB、S-ATA及其它接口。(当组件测试的需求增加时,这套解决方案还可以加入额外的高速接脚。)

關鍵字: 自動測試  Agilent  半导体制造与测试 
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