无线射频量测仪器大厂吉时利（Keithley）今日在台举行媒体说明会，分别介绍4×4 MIMO RF测试系统以及电容对电压C-V测试模块解决方案的发展现况。

Keithley事业管理副总裁Mark A. Hoersten表示，MIMO天线技术比起SISO技术具有优势的关键之处，在于MIMO能够同步（synchronize）且互不干扰地在同一数据信道中传输多重讯号。对于射频IC设计大厂来说，MIMO测试便是决定无线通信收发质量的重要环节。Keithley所提供的射频RF测试系统，能够在同步器的调节之下，整合频谱分析仪以及射频讯号产生器，紧密地同步进行MIMO讯号测试，并且在峰值对峰值（peak-to-peak）的讯号测试中，可量测到1nsec的讯号抖动，误差向量幅度（Error Vector Magnitude；EVM）也能达到-40dB。

Mark A. Hoersten强调，Keithley所提供的4×4 MIMO RF系统解决方案，能够满足工程师量测WiMAX、LTE等3.9G正交分频多任务OFDM通讯信号的实际需求，同步讯号测试的高效能质量也是业界中首次所见，在价格上更比既有的2×2 MIMO RF系统方案还要便宜。此外，Keithley所提供属于PC-based的MIMO讯号分析软件，能够让工程师清楚地藉由功能接口掌握频率传送接收讯号的衰减幅度。

在电容对电压测试模块C-V（Capacitance-Voltage Testing）测试方面，Mark A. Hoersten表示，C-V测试对于45奈米芯片微细化制程、能不能顺利进入到32甚至22奈米阶段来说，非常重要，因为C-V测试攸关闸极介电材质（gate dielectric）的质量优劣与否。Keithley提升了C-V测试的电源量测单元（SMUs）效能，并且具备双脉冲讯号产生器，测试电容值可从10-8 Farads提升到10-9Farads，并且Keithley拥有丰富的C-V链接库内容，能够让95％晶圆制造厂以及75％晶圆实验室在既有的基础上，提升相关测试质量，因应往后微细化奈米制程C-V测试的需求。