太克科技(Tektronix)日前宣布，其USB 2.0符合性测试组件、示波器及探棒已取得Universal Serial Bus Implementers Forum (USB-IF) 的USB 2.0符合性测试认可。取得USB-IF认可的Tektronix TDSUSB2测试组件配合TDS7000系列数字荧光示波器DPO，是业界最完善的USB 2.0符合性测试解决方案。负责USB 2.0装置设计、特性分析及验证的工程师，每天都得面对加快新产品上市并同时遵守USB-IF准则的压力。最重要的是，这些准则规定USB装置开发者之产品必须由经过训练的操作者以USB-IF认可之测试方式来测试。这些工程师为了保持其开发时程，需要一套像TDSUSB2这样可靠及易用的解决方案，确保其产品已能接受正式的检定。

Tektronix TDSUSB2测试组件

USB-IF主席Mr. Jason Ziller表示：「Tektronix一直大力支持USB-IF。过去两年里，该公司提供了讯号质量、droop、接收器灵敏度、TDR及inrush符合性测试与侦错的高性能示波器。而现在，使用TDSUSB2符合性测试组件配合TDS7000系列示波器与探棒，用户就能迅速执行USB-IF认可解决方案之检定所需的必要测试，拥有明显的优势。」

Tektronix示波器产品部副总裁Colin Shepard表示：「USB-IF选择Tektronix的USB 2.0测试组件，是肯定我们对提供协助采用新标准之产品开发所需解决方案的努力。得奖的TDS7000系列DPO、领先同业的探棒，加上独一无二的TDSUSB2软件和测试治具，为客户提供加快产品开发，同时确保USB-IF检定的强大易用解决方案。」