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安捷伦组件举办量测基础概念研讨会
认识基本的网络分析及阻抗量测概念

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2001年05月31日 星期四

浏览人次:【2381】

安捷伦科技为落实协助电子产业的每一个环节,特于景气低迷的当儿,分别于6月19、21和22日在新竹、台北和高雄举办「组件量测基础观念与应用研讨会」。其目的不外为业界工程师打气,藉由重建扎实的基础做起,为景气好转之时,做好冲刺的准备。Agilent的专家非常乐意于与会中与您分享这些经验,一同与您面对在组件测试领域所遭遇的困境与挑战,并进而学习如何加以克服问题。

本次研讨会的内容包含三大主题:「网络分析基础概念」--将提供您高频网络量测的基本知识,包括使用网络分析仪所做的量测,以及如何利用它们来找出组件的特性。我们也会讨论现有网络分析仪的类型、校正问题、以及一些先进的测试技术。「阻抗量测技术基础概念」--将综览LCR表和阻抗分析仪使用到的技术,并告诉您如何选购合适的仪器。「进阶阻抗基础概念与应用」--探讨的是LF和RF LCR表及阻抗分析仪的应用,以及一些更先进的技术。

關鍵字: 網路分析儀  阻抗分析仪  安捷倫科技 
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