在以多媒體數位通訊為技術核心的消費電子時代，高速串列Giga傳輸率持續增加，隨插即用的互通性已成為必備標準化規格。這時針對高頻寬且高效能的高速串列標準的儀器測試技術，也面臨更多的挑戰。Giga資料率縮小設計邊限，實體與資料連結層和執行層的測試更為複雜，GHz多通道效能更需維持訊號的完整性，工程師必須在設計階段模擬相關作用，以測試接收器設計的容許度。因此發射器、接收器與傳輸路徑或纜線的系統測試需更為完備，同時確保設計邊限測試完整、訊號完整性產品組合方案需更為廣泛，相容性測試自動化更要不斷提升。

圖為Tektronix亞太區市場業務經理張天生。（Source：HDC） BigPic:600x458

Tektronix亞太區市場業務經理張天生指出，3～6Gbps高速串列標準具備較小的時序邊際，必須透過接收器特性分析以加強傳統發送器測試；加上傳輸速度與傳輸線追蹤長度不斷增加，使訊號通道發生錯誤的機率也相對提高。Giga高速串列傳輸率需要高頻寬的測試工具，並且搭配自動化相容性測試平台及測試軟體套件，才能真正掌握高速串列傳輸的訊號完整性、簡化測試作業，以自動化設定控制降低工程人員的負擔，讓模擬與設計之間關連更為完備。

張天生表示，Tektronix所發表全球首套TekExpress相容性測試自動化平台系統、以及首先支援SATA的TekExpress自動化相容性測試軟體，建立於NI的TestStand，提供高速串列資料標準單鍵測試，可使接收器、發射器和相互連接的SATAⅠ和SATAⅡ實體層相容性測試100％自動化。可由Windows XP PC控制的TekExpress SATA軟體可編排儀器設定和控制序列，能執行涵蓋SATA-IO工作小組認證的153項SATAⅡ測試施行方法（MOI）的7組測試，在不到3小時的總測試時間內，可完成4組SATA I/O測試核准的施行方法，減少約70％的相容性測試耗費時間。

與上述自動化相容性測試所需搭配的高速串列接收器單機測試方案，結合AWG7000和SerialXpress軟體套件，整合訊號產生器的模擬效果，使高速串列波形產生與管理更加視覺化，減少多重儀器與複雜的測試配置。張天生進一步強調，SerialXpress軟體的直接合成技術，適用產生理想與受損波形、整合週期性抖動與任意抖動、預/解加強、進行通道模擬、閒置狀態與SSC參數。因此SerialXpress能降低儀器複雜度，直接合成或控制波形，並結合AWG7000支援6Gbps之multi-Gbps串列訊號的直接合成、以20GS/s速度測試SATAⅢ規格高速串列資料的能力，進一步測試接收器壓力與誤碼率。

張天生樂觀表示，Tektronix高速串列資料設計與測試方案不僅獲得2007年Intel年度優良品質供應商獎，數位串列分析儀（DSA）及任意波形產生器（AWG）均獲得Intel和IBTA相容性工作小組、Testronic實驗室、Allion測試實驗室以及LCC的HDMI驗證小組好評，今年Tektronix將進一步與洛克儀器、宇宏、掌宇、敏盛、喆端科技等全台經銷商密切合作，持續擴展高速串列分析測試儀器市場的領先優勢。