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以全溼式單晶圓清洗方式領導市場
專訪SEZ亞太區技術行銷副總裁陳溪新

【作者: 王岫晨】   2006年10月30日 星期一

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晶圓清洗在半導體製程的多項步驟,包括前段製程與後段製程(BEOL與FEOL)都會出現。對於製程來說,晶圓清洗的重要性取決於減少晶圓前、後兩面上粒子與污染物質,還能同時進行溼式表面準備動作的能力。這對於提升製造商的良率來說十分重要,因為晶圓清洗可降低每片晶圓上的缺陷數量。


《圖一 SEZ亞太區技術行銷副總裁陳溪新》
《圖一 SEZ亞太區技術行銷副總裁陳溪新》

SEZ亞太區技術行銷副總裁陳溪新表示,晶圓清洗市場分為兩種技術—乾式與溼式。顯然地,業界主要傾向於溼式清洗,其中包含批次噴灑式清洗、單晶圓以及(批次)自動溼式台(溼式清洗台)系統。十年來,批次技術在晶圓清洗領域內受到廣泛使用。然而,半導體國際技術發展藍圖(ITRS)在邁入更小結點與製程內引進新材料的發展前提下,概略提出了更嚴格的清洗規則,強調批次工具在符合這些需求方面帶有限制。這為未來更創新的解決方案鋪路—也是SEZ在晶圓清洗市場所扮演的角色。


身為單晶圓溼式處理解決方案供應商,SEZ領導業界從批次轉移到單晶圓工具。在2005年,整體溼式清洗市場為14億美元,而SEZ擁有高達17%的市佔率,預估在未來幾年仍會持續成長,尤其是在尖端技術市場(12吋晶圓,90nm以下製程)。
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