於本周進行的2026年IEEE/JSAP超大規模積體電路(VLSI)技術與電路研討會上,比利時微電子研究中心(imec)攜手微影解決方案大廠艾司摩爾(ASML)與晶圓代工大廠台積電(TSMC),共同發表一套創新、穩健且可擴充的12吋晶圓整合技術路徑,用於基於2D材料的n型與p型場效電晶體(FET)。這是首次展示搭配50奈米閘極間距(CPP)的微型化nFET(採用二硫化鉬作為通道材料)與pFET(二硫化鎢或二硒化鎢),並且取得良好的電流-電壓特性。這些成果象徵著2D材料電晶體從實驗室邁向晶圓廠的關鍵進展,預期用於超高度微縮化的邏輯元件,以及後段製程和晶背應用。
|
2D過渡金屬二硫族化物(即TMD,例如二硫化鉬、二硫化鎢與二硒化鎢)有望延伸並擴展邏輯微縮技術的發展藍圖。當這些材料取代矽材,並作為原子級超薄傳導通道進行元件整合時,能夠製出具備高性能的微縮化電晶體,對高度微縮的邏輯元件、後段製程與晶背應用來說具備發展潛力。其潛力歸功於這些材料的良好靜電通道控制能力,同時維持容許範圍內的載子遷移率,甚至實現高度微縮的閘極與通道長度。然而,這些材料在導入產業時一直面臨阻礙,原因在於缺乏一套12吋晶圓整合技術途徑,該途徑需要在與產業接軌的元件尺寸下,製造過渡金屬二硫族化物(TMD)nFET與pFET,同時還要比照在實驗室環境下持續累積大量的測試結果,維持一定的性能表現。
艾司摩爾、台積電與imec現在發表了一套可擴充且與後段製程相容的12吋晶圓整合方法,用於基於過渡金屬二硫族化物(TMD)的nFET與pFET元件,其成果分為三點:(1)世界首創達到50奈米閘極間距(CPP)的微縮化nFET與pFET;(2)這兩種電晶體的極性在閘極電壓為零(Vg=0V)時,展現極低的關閉電流(Ioff);以及(3)搭配二硒化鎢通道的pFET性能表現已接近創下紀錄的實驗室元件水準。這套類似於CMOS的整合方法—在單片12吋晶圓上整合nFET與pFET,達到高達94%的可操作電晶體(即Imax/Imin >105),成功驗證其穩健性與穩定度。此次提出的製程流程可用於二硫化鉬、二硫化鎢和二硒化鎢以外的2D通道材料。
...
...
| 使用者別 | 新聞閱讀限制 | 文章閱讀限制 | 出版品優惠 |
| 一般使用者 | 10則/每30天 | 0則/每30天 | 付費下載 |
| VIP會員 | 無限制 | 25則/每30天 | 付費下載 |


