近來許多半導體製造商紛紛推出了擁有卓越性能的高速類比數位轉換器(Analog/Digital Converter；ADC)產品，因此您可能要問，「這些廠商是如何測量晶片的效能？又是使用哪些設備來作測量的呢？」以下我們就為您介紹在ADC轉換器中最重要的兩個精確度參數的量測方法，那就是積分非線性度(Integral NonLinearity；INL)以及微分非線性度(DifferentialNonLinearity；DNL)。除非常使用ADC產品，否則我們常會忘記INL與DNL這兩個參數的真正意義以及重要性，以下我們將先對這方面的定義做一個簡單的解釋。

INL誤差的定義為其實際轉換函

數與直線之間的誤差，以LSB或整個轉換運作範圍的百分比為單位，因此INL誤差量的大小就與直線所選擇的位置直接相關。我們常用的定義法有兩種，那就是「最佳直線(best straight line)法」與「端點(endpoint)法」，請見(圖一)。
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