近年來，日益廣泛而複雜的整合式IC設計與設計時間的壓縮，任何在整合軟、硬體時所發生的問題，都可能成為整個研發計劃失敗的致命傷。為了跳脫舊有窠臼，許多公司不得不重新思考其傳統的軟體設計流程，新的研發流程必須把從觀念到軟、硬體整合測試(System Integration Test)各個面向都納入考量。在新的設計環境下，任何階段的研發工具不能只針對特殊設計領域，必須能夠應用於整個設計流程當中與其他工具互相整合。
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