雜訊低、穩定的電源已儼然成為一種趨勢,相對的如何避免電源震盪便日趨重要,即便架構較為簡單之線性穩壓器LDO也會發生;在電子產品小型化的今日,能提供穩定的輸出電壓及擁有低電壓差(Dropout)電壓特性之LDO,更顯重要。
(圖一)(a)所示為線性穩壓器之基本架構,其中包含了輸出元件、誤差放大器、參考電壓源及分壓回授電阻;而(圖一)(b)所示為線性穩壓器之小訊號等效電路,輸出元件PMOS等效成小訊號模式,和誤差放大器所產生的寄生電阻Rpar、電容Cpar,加上輸出電容本身之等效電阻RESR及旁路電容Cb。
《圖一 (a) LDO基本架構;(b)LDO小訊號等效電路 》 |
|
然而線性穩壓器LDO如何發生震盪?
LDO的輸出電壓不只會隨所加負載的電流改變,外加的輸出穩壓電容及其等效串聯電阻值(Equivalent Series Resistance,ESR)亦會有所影響,輸出電壓的變化量可由下列關係式
:輸出電壓變化量
:ESR值所產生的電壓變化量,其值正比於ESR值
:負載瞬間變化穩壓器所須之反應時間
由上式可知,及正比於,當瞬間電流越大,或穩壓器的反應時間越長,輸出電壓的變化量就將越大,而增加輸出電容值可有效的降低輸出電壓的震盪幅度。在本文中,將探討ESR值對LDO的影響及其適當之範圍。
頻率響應分析
由(圖一)(a)之小訊號等效電路,其輸出阻抗Zo可表示成
由上式可知,出現一零點及兩極點,分別為
而另一極點則取決於Rpar和Cpar
(圖二)所示為LDO之頻率響應圖,實線部分為典型有外加補償的頻率響應圖,而虛線則無補償;負載的電流量將決定極點Po的位置,當電流量越大,Po相對產生在較高頻的位置。無任何補償(只有兩個極點)的線性穩壓器其輸出極易震盪而使迴路無法穩定,因其單位增益頻率(Unit Gain Frequency,UGF)落在相位-180度,也就是相位邊界(Phase Margin)為0度,而無足夠的相位邊界,如(圖二)之虛線所示;為使LDO輸出跳動幅度減小,增加零點ZESR可提高相位邊界使其大於0度,如(圖二)之實線所示。
ESR對LDO之影響
足夠的Phase Margin是LDO穩定的必要條件,所以其輸出穩壓電容是必須的,以產生零點ZESR;輸出電容之等效電阻ESR須設置在UGF點之前,使其UGF點之Phase Margin可大於0度。然而,電容之ESR值須在適當的範圍內以決定系統的穩定性,否則即使增加零點,亦無法有效的減少相位偏移(增加相位邊界);ESR值影響了零點ZESR及極點Pb的位置,當ESR值改變,ZESR、Pb的變化直接影響系統是否穩定。當ESR值過大/過小,UGF點的Phase Margin將小於/等於0度,系統也隨之不穩定;若ESR值過大(ZESR過小),UGF將增加到大於極點Pb,而使Phase Margin不足;若ESR值過小(ZESR過大),在尚未到達零點ZESR前其增益已降至0dB,其相位邊界為0度,亦使LDO無法穩定。
應用實例
針對LDO之震盪首要考慮為其輸出電容之ESR值,小ESR值的電容或許有較好的動態響應,但在補償方面其效果便似乎不足;所以在選擇電容時應以ESR值作為考量以避免LDO輸出產生震盪。
以下將以AIC1117做範例,以AIC1117-33加載200mA,並使用不同之電容,量測其輸出電壓波形,(圖三)為使用10μF之陶瓷電容於輸入輸出端,(圖五)顯示輸出電壓產生不正常的漣波;而(圖四)使用10μF之電解電容,(圖六)則顯示輸出電壓非常穩定。此顯示電容的ESR值確實影響輸出結果。
《圖三 使用10μF陶瓷電容之AIC1117應用電路》 |
|
《圖四 使用10μF電解電容之AIC1117應用電路》 |
|
《圖五 AIC1117 abnormal oscillation》 |
|
《圖六 AIC1117 normal output voltage》 |
|
結論
LDO本身並不會產生雜訊,除非其輸入端或輸出端受到外部漣波雜訊干擾,所以LDO的輸入輸出電容是絕對必要的,而輸出電容必須選擇在安全的ESR範圍裡,如(圖七)、(圖八)所示;若無足夠大電容的ESR,LDO將隨溫度上升而產生震盪;只要能符合ESR的需求,無論是陶瓷電容、鋁電解電容或鉭質電容均可適用,但在應用上較建議使用電解電容或鉭質電容,因為陶瓷電容的ESR值較小,且在溫度變化時其特性的變化量也相對提高。
〈參考資料
[1] Y.S. Hsu and G.C. Wu, "Linear regulator design", July 2001
[2] B.S. Lee, "Understanding the stable range of equivalent series resistor of an LDO regulator", Application Note, Texas Instruments, November 1999
[3] Hawk Chen, "A better approach of dealing with ripple noise of LDO", Application Note, Analog Integrations Corporation〉
(作者任職於沛亨半導體產品應用部)