账号:
密码:
最新动态
 
产业快讯
CTIMES / 文章 /
高频晶圆测试难如上青天 新一代VNA为解决问题而生
220GHz一次到位

【作者: 王岫晨】2021年07月08日 星期四

浏览人次:【4053】

对于晶圆量测来说,高频测试一般都是达到110GHz的频率。我们可以看到以往用于晶圆测试的设备,主要的模组限制都是在这个频率上。


一般来说,晶圆测试都是在晶圆上透过自动化探针台自动去寻找晶圆上的目标,自动点击以进行量测,因此对探针与探针台的要求非常高,这也是晶圆制造商最在意的效能。


高频晶圆测试
...
...

另一名雇主 限られたニュース 文章閱讀限制 出版品優惠
一般訪客 10/ごとに 30 日間 5//ごとに 30 日間 付费下载
VIP会员 无限制 20/ごとに 30 日間 付费下载
相关文章
让6G主动创造新价值 提供通讯产业应用机会
分散式模组化VNA有效解决长缆线测试痛点
PCIe技术跃升主流 高速数位测试需求持续升温
新用户设备加速进入 毫米波市场稳定茁壮
5G专网方兴未艾 智慧工厂先蒙其利
comments powered by Disqus
相关讨论
  相关新闻
» 意法半导体公布第三季财报 工业市场持续疲软影响销售预期
» 慧荣获ISO 26262 ASIL B Ready与ASPICE CL2认证 提供车用级安全储存方案
» 攸泰科技跃上2024 APSCC国际舞台 宣扬台湾科技竞争力
» 东芝推出高额定无电阻步进马达驱动器TB67S559FTG
» 艾迈斯欧司朗全新UV-C LED提升UV-C消毒效率


刊登廣告 新聞信箱 读者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3  v3.20.1.HK8BA4L4LGYSTACUK0
地址:台北数位产业园区(digiBlock Taipei) 103台北市大同区承德路三段287-2号A栋204室
电话 (02)2585-5526 #0 转接至总机 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw