Tektronix推出S530列叁数测试系统 搭配KTE 7软体支援WBG制造

测试与量测解决方案供应商Tektronix公司今天发布了新款Keithley S530系列叁数测试系统，以及KTE7软体和其他增强功能。S530平台使半导体制造厂能为高速成长的新技术增添叁数测试能力，同时有效降低CAPEX投资，并显着地提升每小时晶圆产量。总体拥有成本随之降低後，将有助於制造商在竞争激烈的新市场中因应庞大的价格压力。

图一 : 以KTE 7为基础的Tektronix新型S530平台可显着提升量测效能并有效降低成本，有助於半导体制造商在高速成长的新兴市场中占有一席之地

奠基於新兴宽频带间隙(WBG)技术的新型半导体产品(如GaN和SiC)有??达成更快的切换速度、更宽的温度范围、更好的电源效率以及其他优势。为了满足这些产品的测试需求，以KTE 7为基础的S530平台提供了实验室等级的量测效能，以及最短的设定和测试时间。

随着新应用的出现和需求的变化，高达1100V的高速、全弹性的解决方案亦应运而生。这使晶片制造商能够以最少的投资，在单一系统上利用最短的测试/设定时间，经济高效地将其扩展至高速成长的电源和WBG装置(包括汽车市场)中。
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