Tektronix发布双脉冲测试解决方案 加速SiC和GaN验证时间

Tektronix今日宣布推出新版双脉冲测试解决方案（WBG-DPT解决方案）。各种新型的宽能隙切换装置正不断推动电动汽车、太阳能和工业控制等领域快速发展，Tektronix WBG-DPT解决方案能够对SiC和GaN MOSFET等宽能隙装置提供自动化、可重复和高准确的量测。

图一 : Tektronix发布以示波器为基础的双脉冲测试解决方案，加快SiC和GaN技术的验证时间

下一代电源转换器的设计人员现在能够利用WBG-DPT解决方案自信而快速地最隹化其设计。WBG-DPT解决方案能够在Tektronix 4、5和6系列MSO示波器上执行，无缝整合至示波器的量测系统中，拥有多项业界首创的量测功能，例如自动WBG偏移校正技术和逆向恢复时序图，让工程师更容易看到叠加在单一显示画面上的多个脉冲逆向恢复细节。量测的设计还符合JEDEC和IEC双脉冲测试和二极体逆向恢复标准。

Tektronix主流产品组合总经理Daryl Ellis表示：「Tektronix客户是下一代尖端电力电子技术的设计者，他们必须对设计进行最隹化，以在效率、尺寸和可靠性之间找到平衡点。我们相信Tektronix WBG-DPT解决方案的设计将能提供简化的除错程序、可重复的量测（根据JEDEC和IEC标准）和更快的学习曲线。测试自动化缩减了测试时间和重新测试错误，确保我们的客户都能满足他们的专案时间表和上市时间计划。」
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