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LED失效分析篇
 

【作者: 邵桶俊】   2011年09月01日 星期四

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LED的發光源是由所謂的III-V化合物所構成,即大家熟知的磊晶晶粒(chip),該固態化合物本身性質很安定,在產品所規範的條件下使用並不易損壞,而處於一般的應用環境中也不起化學反應,因此擁有較長的產品壽命。然而,為使該LED chip發光,必須由外界通入電流,因此一般會把尺寸很小的chip黏貼在特定的載台(或稱導線架)上並以金屬線或銲錫等材料連接chip的正負兩極,然後用高分子材料包覆整個載台,這就是所謂的封裝製程,經過這段製程後成為市面上常見一顆顆的LED燈粒。在實際應用時,還會視所需把數顆LED燈粒組裝成模組,最後再與其它功能的模組組合成為終端產品。


從上可知,一個LED產品的失效,起因可能來自於該產品的任何一個部份,故必須抽絲剝繭方能找到真正的失效原因。針對失效來自LED燈粒而言,因完整的LED燈粒中,LED chip本身很強壯,但包覆chip的封裝材料則易遭受損傷,因此,LED燈粒的失效多可歸因於封裝材料的破壞或劣化所導致。若要充分解析這類失效,牽涉到光學、化學、材料學、電子物理學等領域的專業知識,並搭配精密的儀器與豐富的實務經驗,才能確認失效點並推導真因,進而提出改善對策。筆者在替LED產品進行相關失效測試時,發現許多總類的LED失效現象,也研發出相對應的解析手法,藉此文將過去三年多服務LED客戶之經驗做一分享:


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