帳號:
密碼:
最新動態
 
產業快訊
CTIMES / 文章 /
偏極化及失真量測原理及實務
量測精準制專欄(10)

【作者: 祁子年】   2003年07月05日 星期六

瀏覽人次:【17233】

在高速通訊系統中,為了增加信號穩定性及降低衰減、失真,而會採用光纖作為通訊媒介,如Infiniband、GigaBit Ethernet、PCI-X、Telecom等,但當傳輸速度在2.5Gbps以上甚至更高,傳輸距離為公里尺度時,就會因光纖及其連結元件本身的空間、折射率不對稱,在能量上造成插入損失的不確定性、時間上造成失真情形,因為光纖為波導的一種,內部的介質為分勻相的(Non-homogeneous),因此也會有延遲、偏極化的情形。本文的重點,就是討論這些了解光學極化特性、造成誤差的原因及相關的量測方法,文中會先介紹色散、極化的原理,其次是對應的量測技術及範例。



色散失真(CD Chromatic Dispersion or GD Group Delay)


不同波長的光在真空中行進的速度是相同的,但當進入介質時,會取決於介質的特性造成傳輸速度上的差異,這種不同波長在速度上的延遲造成信號失真,稱之為色散。例如白光穿透三菱鏡時,紫光速度較紅光快。當從空氣進入折射率較高的介質時,速度較快的光波造成的散色角較大,在穿透三菱鏡造成分色的光譜。在光纖內部,是參雜稀有元素的方式產生不同的折射率,因此對於不同波長的光源,其行進速率就略有不同,一般光學元件也是如此。以10Gbps、波長1550nm採ASK調變的DFB雷射為例,在頻譜上的展頻為20GHz,但在光譜中,就有約0.16nm的位移(一般光譜儀無法解析出此信號),加上DFB雷射會因溫度效應使中心波長產生飄移,因此,當一個調變信號進入光元件時,會因載波速度的不一致造成訊號失真,如(圖一)所示。



《圖一 光纖被動元件內部的色散示意圖》


早期只有純光纖需要作失真的量測,因為失真是與光纖長度有關的,但光元件愈趨積體化,其參雜元素愈複雜,加上資料傳輸速度增加,為了估計及降低整個系統的失真情形,各個關鍵元件就必須要量測並加以補償,一般在估計色散的極限與調變速度的公式為:



《公式一》


一般單模光纖色散值約為數十ps(nm*km),代表每公里、不同波長的失真比例。在長距離、高傳輸速度如10Gb/s以上的通訊系統中,色散效應明顯地影響解調訊號的正確性。但色散現象屬於較穩定的值,只要了解元件的特性,可以採用補償的方式補救,例如漸變式布拉格光纖光柵(FBG Fiber Bragg Grating)或一段色散情形恰與一般光纖相反的反色散式光纖(Reverse Dispersion Fiber)。



偏極化的原理


光可視為電磁波的一種形式,即所謂的TEM Wave(其中T = Transmission代表傳輸方向,E = Electric代表隨時間脈動的電場,M = Magnetic代表隨時間脈動的磁場),從電磁學的理論中,知道當電磁波在行進時,電場與磁場方向恆為正交(orthogonal),亦即一旦決定了電場方向,也就決定了磁場的方向。因此在表示偏極化時一般以電場方向來定義,電場是一個向量,有大小及相位,且為時間的函數,若考慮X、Y、Z三維的空間,Z為傳輸行進方向,則電場在二維空間中就可以分成X與Y軸的兩個分量,極化的概念就從這裡推演出來。



《公式二》


首先,我們定義偏極化的程度DOP(Degree of Polarization),它表示所有電磁波能量中偏極化能量的所佔的比率,偏極與非偏極光最大差別在於偏極光是有週期性的,但非偏極光為雜亂的訊號。最簡單的辨別方式是,在同一時間點上,偏極光只有一個電場的方向,但非偏極光則會出現兩種以上的隨機方向電場;(圖二)左為圓偏極光、右方則為無偏極狀態。一般來說,波寬越寬的光源偏極程度越低,反之波寬越窄的光源偏極程度越高,因此當光源發射出的波長越單純,極化程度越好。以自然光、發光二極體為例,它是各方同向性的隨機光源,DOP值較小,視為無偏極化,但半導體雷射光源,因共振腔的特性使得極化程度最高,可達90%以上。






《公式三》

《圖二 電場在有偏極及無偏極化的示意圖》


接下來,是極化的狀態SOP(State of Polarization),因電場可分為Ex及Ey兩個分量,兩分量不同的大小及相位差,就決定了極化的狀態,若兩分量的相位相同,此時極化的狀態稱為線性偏極。以(圖三)右方為例,當Ex=0,此時電磁波只在Ey軸方向脈動,稱之為垂直線性偏極(LHP Linear Vertical Polarization),若Ex及Ey大小相等,即是出現在第一、第四象限中的45度線偏極(與Ex軸夾角的度數)等;總之,當相位相同時,光波就在固定的方向做線性的脈動。



《圖三 三維及二維空間中的電場極化特性》


若兩分向量的相位不一致時,情況就較複雜,(圖四)是考慮Ex與Ey的振幅大小相同但相位差90度的情形(Eox比Eoy快90度):



《公式四》



《圖四 Ex與Ey振幅大小相同但相位差90度的情形》



當Ex或Ey向量的大小不一致,或相位差不為90度的倍數時,便出現了橢圓偏極的狀態,也就是當極化狀態除了線性偏極或圓偏極之外,其餘均為橢圓偏極。



極化狀態的表示方式


在了解各種偏極形成的原因之後,接下來的問題是如何去描述偏極的狀態,表示方式有許多種,介紹如下︰



Jones Matrix


此法以二維的矩陣來表示,其中Ex、Ey代表大小,δx及δy分別代表兩軸相位。以水平線性偏極為例,經過歸一化之後,,若是右旋圓偏極則為,使用二維的矩陣的好處是,若我們可以知道光源起始及最後的偏極狀態,就可以透過矩陣及聯立方程式的運算,將光元件特性以矩陣的方式表達。例如說,入射的光源是水平線性偏極光(LHP),當通過一λ/4的延遲片後,所得的偏極光為右旋圓偏極(RHC),以下便是矩陣的表示方式,DUT的行為就可以決定出來。



《公式五》


Stokes Vector


前面所提的Jones Vector是假設光源為100%的極化程度,但在實際光學系統中,考慮不是完全極化的光源,就要分為極化與非極化的部分來討論;相較之下,Stokes向量矩陣加強了部分極化程度的光源的分析,它是一個1×4的矩陣,它的表示方式及內部組成元素的關係如下︰




《公式六》



Poincare Sphere


邦加球(Poincare Sphere),是由Stokes矩陣衍伸出來,以三維空間的圖形來代替矩陣,使我們在做分析時能一目了然,如(圖五)所示,其中各矩陣元素都已做歸一化。在球面上的任一點,都表示特定的極化狀態,有相對應的Stokes矩陣,在球面上任兩點表示極化程度相同,但極化狀態不同;若出現在圓心,則表示極化程度為零;部分極化程度的光則表示在半徑比較小的圓球上。若狀態出現在球面的赤道部分,表示是線性偏極;出現在南北兩極便是圓偏極,除了以上的部分,其他都屬於不同狀態的橢圓偏極。除此之外,我們還可以從圓球上起始及終點的軌跡,可分析出如何從一個偏極狀態到另一個偏極狀態的路徑。



《圖五 邦加球矩陣及圖形表示法》


Mullar Matrix


Jones、Stokes向量及邦加球是數學運算的工具,它可以表示目前極化的狀態為何,但對於元件本身,我們可以使用Jones矩陣來表達元件對穿透光產生的偏極特性,前已提到,Jones矩陣是以完全極化程度的特性來表達,在使用上因有複數項使用上較不方便。但對於Stokes向量及透過Stokes 向量運算的Mullar矩陣而言,它是一個4×4的矩陣,對於任何極化程度及狀態的元件,如偏極片、延遲片及光衰減器等,都能用此矩陣表示。




《公式七》



右方矩陣是入射光源與元件作用後,在左方矩陣得到結果,即:結果=待測物×入射源。例如入射光源是一個無極化光源,能量為1,當經過一個水平線性偏極片後,穿透光變成水平線性偏極,光源能量部分被吸收降為原來的2/3,則矩陣表示如下︰



《公式八》


失真在光通訊上造成的影響


在了解公式的定義後,我們回到實際的應用層次。大部分光纖通訊均以數位編碼的方式做調變,考慮的重點不外乎能量、時間與光波長的關係,作分析時,就可分成能量、失真兩部分來考量。首先是能量的部分,當光源穿過各元件時,會產生一定程度的插入損失,同時光在元件中行進時,會使極化狀態改變,而各極化狀態下所產生的插入損失有所不同,因這種改變是不可預期的,所以造成插入損失的不確定性,我們稱為極化相依損失PDL(Polarization Dependent Loss),例如某光隔絕器IL=0.2dB,PDL=±0.1dB,則插入損失就有一個不確定值0.2±0.1dB。



在時間部分的信號失真主要有三種︰多模態失真(MD Modal Dispersion)、色散及偏極化模態失真(PMD Polarization Mode Dispersion)。多模態失真出現在多模光纖中,當光通過光纖時,因模態及邊界條件不同使行走的路徑不同,不同攜帶能量產生光程差,使信號到達時間不同產生失真,這種模態失真大小為另兩種失真的數百倍,因此在多模光纖系統中不需要考慮其他兩者造成的影響。但對於單模光纖而言,光僅容許一條路徑通過,因此沒有多模態失真的問題,這時就必須考慮另外兩者造成的影響。對於色散的定義,前以定義,在此不贅述。



最後是偏極化模態失真的現象,在了解光的極化特性後,進一步解釋光纖本身的結構與偏極化的關係,我們以雙折射的現象為例說明,如(圖六)。



《圖六 三種使信號失真的情形》


(圖七)是方解石的晶體(CaCO3),它是一個在正交的方向有不同的折射率的典型例子。折射率的不同並不在於傳輸的方向,而是電磁波脈動的方向,因此當光波通過晶體時,折射率因為光波脈動方向的不同使得傳輸的速度有所差異,在圖中我們看到兩個影像重疊在一起,這是由獨立的兩個光波所組合成,稱為O-ray(Ordinary ray)及E-ray(Extraordinary ray)。



《圖七 自然結晶的方解石雙折射現象》


以光元件來說,可以視為一種程度很小雙折射物體,(圖八)為示意圖。光纖中的核心層部分理論上應該是圓形的,但實際上卻有可能是橢圓的形狀,主要原因有兩個︰一個是在光纖預型體或抽絲後後製作上的小瑕疵,另外是當我們使用光纖時因彎折或旋轉對其產生的應力,因此當光波通過核心層時,因電磁波脈動方向不同有快軸與慢軸之分,快軸與慢軸為正交。顧名思義,快軸表示電磁波在這個方向脈動時行進波傳遞速度較快,慢軸則表示傳輸速度較慢,如此一來,以不同極化態攜帶的信號便會產生時間的延遲現象,也就是當兩軸行走的速度不同造成信號的失真。若在接收端以眼圖做分析,它因不同偏極到達時間不一致,而使光能量的分布有如圖八右方的差異。此時產生較大的抖動(Jitter)並使誤碼率增加,造成通訊品質下降。



《圖八 偏極模態失真示意圖》


色散、偏極化模態失真量測原理


相對於能量在不同波長下的損失行為,失真則是考慮電磁波在相位上的變化。同一空間中,當不同的波長或頻率的電磁波通過某一段介質後,產生的相位速度(Phase Velocity)不一致,使群速度(Group Velocity)與相位速度不同,產生波包(Envelope)的行為,將相位對頻率微分,可以得到平均的失真情形,即群速度延遲(Group Delay)。以光學來說,就是探討介質與波長的關係,亦即色散現象。更進一步分析,電磁波在電場行進方向上可以分成TE、TM兩種正交模態;理論上,兩種模態傳遞速度是一致的,但實際上卻不相同,這兩個模態的變異性就稱為(Differential Group Delay;DGD),因與極化行為有密切關係,又稱為偏極化模態失真(PMD)。



《圖九 色散與偏極化模態失真示意圖。(圖中橫座標為頻率,縱座標為相位)》


色散失真量測原理


在色散參數的量測方面,其一是採用微波工程用的網路分析儀(Network Analyzer)搭配光學調變器作參考相位與待測物相位間相位位移的偵測,經過光電的轉換,就可得到群速度延遲參數,如(圖十)所示。網路分析儀內的訊號產生器產生一個電磁連續波(CW Continuous Wave)到電光轉換的光學調變器(Modulator)上,當可調式雷射光輸入固定波長的光到調變器時,因為折射率的快速變化,使調變器內部兩路光產生建設性及破壞性干涉而形成調變的訊號,以調變訊號輸入到待測元件輸入埠,穿透後的能量經過光接收器,將調變光訊號解調成原來的微波訊號再饋入網路分析儀,即圖中的A埠;網路分析儀內部在送微波訊號時,R埠是偵測入射訊號的振幅、相位作為參考源(注意A及R為向量,皆具有振幅及相位部分),則從A與R相位部分的比值,就可以得到相位差,從入射微波中得到調變的頻率,就可以算出相對性群速度延遲參數。



《圖十 色散量測法量測儀器架構示意圖》


另一種新的色散失真量測技術是採用等相掃描干涉的原理(簡稱SHI Sweep Homodyne Interferometry),其原理與高速調變的Mach-Zehnder干涉儀類似,不必使用RF的網路分析儀作光電的切換,就可直接使用可調式雷射光源作掃描的動作。原理是以可調雷射光源同時匯入待測物及參考路徑中,因兩路徑中的光波振幅及相位在接收端會產生干涉現象,與時間相關的節拍(Beat)頻率就決定了信號的相位;與時間相關的振幅,就決定了信號的大小。因為雷射光源處於掃描模式,因此時間相關參數即為雷射掃描速度,從掃描範圍得到波長的參數,群速度延遲就可以從兩點間相位的微分中得到。



《圖十一 掃描干涉儀工作原理示意圖》


偏極模態失真量測原理


另一種方式,是使用Jones矩陣的方式,透過兩個光纖環將偏極狀態調成圓偏極的狀態,之後使用0、45度、90度的線性偏極片,將元件的Jones本徵矩陣算出來(Principle State of Polarization;PSP),當雷射光源改變波長時,就對應出另一個矩陣。TE、TM的變異性,就可以從兩個矩陣中得到,而變異性就定義為DGD。正確的做法是將量測結果對應統計上的結果是否符合Maxwell's分布模型,若標準差值過大則必須增加取樣點增加量測精確度,若標準差值不大則可減少取樣點數來增加產能,平均值就是我們要求的PMD,(圖十二)右下方為PMD統計分布圖。




《圖十二 使用JME法量測PMD架構示意圖》



另一種方式,與GD法同樣採干涉原理來完成,它是先以任一極化狀態為基礎,當通過待測物的快慢軸後,以極化光分離器PBS(Polarization Beam Splitter)分解出兩個正交的向量u11、u21,接下來,再以延遲片將光源旋轉90度作第二次入射,同樣經過待測物後再分解成另兩個向量u12、u22,此時就有一個2×2的Jones矩陣,即,代入公式算出PMD的值,因干涉現象相當靈敏,在量測時需要注意到環境的影響如震動、溫溼度等。如(圖十三)。




《圖十三 PMD量測方法示意圖》



結論


目前光被動元件的量測參數不外乎五大類,以能量來看,有IL/ RL/ PDL;以失真來看,有CD/ PMD,無論是哪些量測參數,精準的雷射光源一定是必要的條件,目前有整合所有被動元件量測的全參數分析儀問世,如此一來就不需為了某一個特殊規格的量測傷腦筋,在研發階段也能確切的掌握元件的所有特性,這正是整合測試站量測的目標。



(本文作者畢業於中正大學物理所,目前於安捷倫科技任職電子儀器事業群技術部技術顧問。)



相關文章
AI高齡照護技術前瞻 以科技力解決社會難題
3D IC 設計入門:探尋半導體先進封裝的未來
SiC MOSFET:意法半導體克服產業挑戰的顛覆性技術
意法半導體的邊緣AI永續發展策略:超越MEMS迎接真正挑戰
CAD/CAM軟體無縫加值協作
comments powered by Disqus
相關討論
  相關新聞
» Anritsu Tech Forum 2024 揭開無線與高速技術的未來視界
» 安立知獲得GCF認證 支援LTE和5G下一代eCall測試用例
» 資策會與DEKRA打造數位鑰匙信任生態系 開創智慧移動軟體安全商機
» 是德科技推動Pegatron 5G最佳化Open RAN功耗效率
» 是德科技PathWave先進電源應用套件 加速電池測試和設計流程


刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.2048.3.144.228.11
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw