发光二极体（LED）常被用于各种现代电子设计与系统中，以提供影像显示与状态检视的功能。在机板日趋复杂之际，厂商纷纷寻求更多的测试功能，来检验每个元件。而这将会使得边界扫瞄测试（Boundary Scan Test；BST）演进到加入具备完整功能的内建自我测试（Build-in Self Test；BIST）技术。业者面临的挑战在于至今仍有一些元件的自动测试功能有限，必须依赖人工测试或目测来侦测故障状况。这类LED可制造出1美元成本的零组件，应用在售价达1万美元的线路卡或系统中，因此，零组件品质的优劣会直接影响顾客满意度，以及对整体产品品质的观感。

LED测试瓶颈

LED的故障通常可分为两大类。第一，当LED在插入前置面板显示器或其他狭小空间时，因元件故障、电路板组装问题以及机械组装破损，会造成电子开路与短路。第二种则是当邻近LED在被激化至相同状态时，其色彩与亮度会出现不一致的状况。利用BST检验线路的连续性，就能在其他元件中找出第一种故障形态。但在独立型LED中，内建BST功能并不是一种可行的作法，制造工程师只好以目测方式来检验LED。目测的检验流程是由技术人员观察LED状态，之后再回报所有元件都正常无误。这种重复性的作业容易出现人为失误，因此检验更加复杂，以确保技术人员没有分心出错。对于测试人员与业者而言，这种测试流程都不是一种有效率、具有附加价值的方法。
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