FormFactor是先进晶圆探针卡的领导制造商，其解决方案包括晶圆针测、高频率与预烧测试所使用的探针卡。在晶圆针测领域内，探针卡可用来判定晶片是否能操作；高频率探针卡可用来判定晶片是否能在预先设计的速度下真正运作；预烧探针卡测试则用在真实世界状况下，不同温度时晶片的效能，借以判定晶片是否在过度使用时会操作失败。

《图一 FormFacotr总裁Joe Bronson》

由于消费性电子市场快速地改变，新的半导体设计在被淘汰之前可能仅有6到12 个月的寿命。对于晶片制造商来说，新产品的快速上市与大量生产对于获利来说是绝对必要。然而，在IC制程中所发生的问题可能会导致低良率装置的产生。若这些不良的装置没有在晶圆被切割与封装之前测试到，则晶片制造商就浪费了先前所花费的所有时间与金钱。

FormFactor的先进探针卡解决方案藉由筛检晶圆上IC的品质，确定只有符合规格的装置才能随后封装，协助晶片制造商克服这些障碍，并加速他们的投资报酬率。
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