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内建式抖动量测试技术(上)
具有宽带操作与高分辨率

【作者: 李瑜、鄭乃禎、陳繼展】2008年09月02日 星期二

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前言

时序抖动(timing jitter)为系统设计中普遍存在的问题。但是因为早期系统使用需求量不高,所以皆透过较低的讯号传输速度减少设计负担,也因此抖动相较于整个周期时间所占的比例非常微小。随着集成电路日新月异,人们普及使用计算机并增加通讯带宽需求,在各种通讯协议上都大幅增加其操作速度。在相同条件下时序抖动已在讯号间占有相当大的百分比。因此与频率相关的系统都会针对抖动做进一步的规范。


目前抖动量萃取的方式皆藉由仪器外部量测所得,但当系统操作速率增加后于量测上会遇到以下两个问题:测试成本(cost)与测试准确度(accuracy)。从测试成本观点来看,若要量测GHz以上讯号,示波器为得到准确量测数值其取样率必须非常高速,动辄数十GS/s。因此软硬件实现变得非常困难,测试机台成本也就大幅提升。此外,采用外部仪器测试芯片内部讯号,也会产生量测可靠度的问题。例如测试环境对于待测讯号的干扰、I/O接口带宽之限制、芯片内部输出缓冲器(output buffer)的噪声...等等,这些皆会造成量测数值准确度下降。
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