账号:
密码:
最新动态
产业快讯
CTIMES / 文章 /
致茂电子展推出四大主题 营造客户与制造商双赢目标
--专访致茂电子电子量测仪器事业部研展处经理曾汉仁

【作者: 馬耀祖】2003年11月05日 星期三

浏览人次:【3562】

《图一》
《图一》

今年十月台北国际电子展又热闹登场,稍有别于往年,今年参展的电子量测仪器相关厂商明显的增多,似乎可以反映出国内电子产业,在为未来蓄积更大的产品开发能量。继去年之后,国内知名量测大厂致茂电子(Chroma)今年再次参展,其展示内容主要为:新型电器安规测试产品、新型LCR Meter系列、完整的电解电容生产测试及验证方案、新代理日本之产品( TOADKK、ECG-KOKUSAI等)。


负责「电子安规测试」及「被动元件测试」的致茂电子量测仪器事业部研展处经理曾汉仁,在展览会场接受本刊之专访时表示,一般的电气安规测试项目都相当耗时,而业者因成本上的考量,经常会做一些不适当的处理,包括:略掉部分认为不易出问题的检测项目、检测耐压时将多个待测物并联测试、缩短测试时间、忽略作业人员的安全以徒手作业等。


电子安规测试首重「安全」,这包括了生产作业人员及产品使用者的安全。针对安全,曾汉仁提到几个实际可行的方法,一是在电子设备之安规测试时,耐压与接地联结可同时测试;二是将测试项目以自动顺序测试功能,来达成减少测试项目间之间隔时间;三是以多机自动化连线来同时测试多个待测物。
...
...

另一名雇主 限られたニュース 文章閱讀限制 出版品優惠
一般訪客 10/ごとに 30 日間 5//ごとに 30 日間 付费下载
VIP会员 无限制 20/ごとに 30 日間 付费下载
相关文章
看数位化平台整合智动设备与元件(中)
以实事求是科学精神来创业与经营的典范
comments powered by Disqus
相关讨论
  相关新闻
» Anritsu Tech Forum 2024 揭开无线与高速技术的未来视界
» 安立知获得GCF认证 支援LTE和5G下一代eCall测试用例
» 资策会与DEKRA打造数位钥匙信任生态系 开创智慧移动软体安全商机
» 是德科技推动Pegatron 5G最隹化Open RAN功耗效率
» 是德科技PathWave先进电源应用套件 加速电池测试和设计流程


刊登廣告 新聞信箱 读者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3  v3.20.1.HK8BF741C6USTACUKU
地址:台北数位产业园区(digiBlock Taipei) 103台北市大同区承德路三段287-2号A栋204室
电话 (02)2585-5526 #0 转接至总机 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw