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CTIMES / 誤碼測試
科技
典故
第一顆電晶體(Transistor)的由來

第二次世界大戰末期,貝爾實驗室開始一項研究計畫,目標是研發出一種體積更小、功能更強大、更快速且可靠的裝置來取代真空管。1947年12月23日,由貝爾實驗室研發的電晶體取代了真空管,優點是體積更小、更可靠、且成本低廉,不僅孕育了今日遍及全球的電子半導體產業,同時也促成電訊電腦業、醫學、太空探測等領域產生戲劇性的改變。
工研院與安立知共同建置400GE測試平台 (2017.09.25)
工研院擬於2017年底前完成高速量測實驗室建置,將成為亞洲當中與400GE & Silicon Photonics 相關應用的測試實驗室,對於台灣未來計畫發展成為高速光電元件研發重鎮的目標注入了一劑強心針
是德科技M8000系列誤碼測試解決方案新增PAM-4支援 (2015.08.28)
工程師可有效評估具PAM-4編碼和內建誤碼計數器的接收器 是德科技(Keysight)日前宣布旗下的Keysight M8000系列誤碼測試解決方案新增PAM-4資料格式和內建的誤碼計數器支援,進一步擴充其PAM-4測試解決方案的陣容

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