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典故

USB的沿革歷史充滿曲折，其中各大廠商從本位主義的相互對抗，到嘗盡深刻教訓後的Wintel合作，能否給予後進有意「彼可取而代之」者一些深思與反省？

	蜂巢式行動裝置製造測試大變革 (2013.02.27) 由於測試工程師必須測試更多的標準與頻段，驗證測試的項目也急遽增加，進而提高了整體測試時間與成本。為了保持競爭力，硬體製造商正努力尋找可減少測試成本的方法，以提高其利潤
	使用高效能數位轉換器提升相位陣列天線測試速度 (2013.02.27) 本文簡單介紹在相位陣列天線測試系統中，與數位轉換器的使用和選擇有關的重要問題。此外，它還提供一個使用模組化Agilent AXIe M9703A（數位轉換器）來提升測試速度的解決方案
	揭開頻譜分析儀相位雜訊量測整合相位偏差結果之神秘面紗 (2012.12.24) 大部分新型的頻譜分析儀都提供一項方便的量測，可決定正弦信號在各種偏移頻率下的整合相位偏差。量測結果可以dBc或度為單位表示。本文將說明如何根據單旁波帶相位雜訊功率與載波比，來計算RMS相位偏差