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CTIMES / 自動化測試設備
科技
典故		 功成身退的DOS操作系统

尽管DOS的大受欢迎，是伴随IBM个人PC的功成名就而来，不过要追溯它的起源，可要从较早期的微处理器时代开始说起。
NI将于Semicon Taiwan展出智能型开放式ATE自动化测试设备 (2016.09.07)
在充满智慧装置的物联网时代，多元且复杂化的半导体零组件应运而生，让半导体厂商在进行各项待测物量测时面临极大的挑战。 NI国家仪器于9月7日到9月9日2016 SEMICON Taiwan期间
NI与Astronics 携手开创航太与国防测试系统新局面 (2015.11.23)
NI 国家仪器与Astronics的全资子公司Astronics Test Systems将携手打造PXI 架构的航太与国防产品。 Astronics拥有测试系统整合的优势，再加上NI 在PXI 架构自动化测试系统领域的地位，预期可打造出适合自动化测试设备（ATE） 应用的系列产品
惠瑞捷推出V6000闪存及DRAM测试系统 (2008.11.28)
惠瑞捷(Verigy) 宣布推出V6000测试系统，可在同一套自动化测试设备 (ATE) 机台上，测试快闪和DRAM内存，测试成本低于现有的解决方案。多功能的V6000可调整适用于半导体内存的各个测试阶段，包括工程测试、晶圆测试 (Wafer Sort)、以及终程测试 (Final Test) 等

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