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自动测试设备系统中的元件电源设计 (2024.07.26)
本文叙述为自动测试设备（ATE）系统中的元件电源（DPS） IC选型指南，能够协助客户针对其ATE系统的实际要求选择合适的DPS IC，并满足ATE系统输出电流、热要求的系统级最隹化架构 |
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筑波与泰瑞达携手ETS 打造化合物半导体IC动态测试整合方案 (2023.09.01)
筑波科技(ACE Solution)与美商泰瑞达(Teradyne)携手合作推出ETS GaN Mos、Power Module、IGBT测试整合方案。半导体功能测试（FT）向来需要克服各种挑战，包括复杂的案例设计、执行和系统维护、数据分析管理，以及对测试环境稳定性的高度要求 |
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光电系统测试的运动扫描和数据收集方法 (2023.07.12)
使用自动运动系统执行扫描测试可以得到许多感测器的性能数据，可用於开发和生产测试。本文探讨可用於量测光电感测器性能的不同扫描模式和方法。 |
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提升影像动态测试效能 宜特获官方授权为VESA ClearMR认证中心 (2023.03.13)
电竞产业引领风潮，宜特讯号测试实验室近期取得视讯电子标准协会（Video Electronics Standards Association；VESA） 认可，正式成为ClearMR认证中心（ATC），将可提供客户相关技术研讨与测试服务，使其产品符合技术规范，取得认证标章 |
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R&S携手AVL开发解决方案 支持模拟真实驾驶条件自动测试 (2023.01.03)
AVL和罗德史瓦兹合作，在实际驾驶条件下实现更快的自动化EMC测试电动汽车包含许多电子元件，它们会发出射频干扰，可能会对车辆性能和驾驶体验产生负面影响。
为了简化并加快开发过程 |
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HOLTEK新推出内置驱动器Touch MCUBS82C16CA/BS82D20CA (2022.08.29)
盛群半导体（Holtek）新推出BS82C16CA及BS82D20CA产品系列，本系列进一步提升抗干扰特性，同时提供更丰富的系统资源，封装接脚与BS82C16A-3/BS82D20A-3相容，适合需求LCD/LED显示的触控应用，如电磁炉、微波炉、电暖桌等 |
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考量缺陷可能性，将车用IC DPPM降至零 (2022.07.14)
为了车用IC符合ISO 26262国际安全规范中DPPM目标，在选择应用模式类型和设置覆盖率目标时，最先进的方法是透过检测到的故障或缺陷数量除以故障或缺陷的总数，得出测试覆盖率，进而选择模式 |
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PI推出三相BLDC驱动软体 将与Motor-Expert Suite搭售 (2022.06.24)
Power Integrations推出了用於三相 BLDC马达驱动的全新控制软体。透过结合 Power Integrations 的 BridgeSwitch 整合半桥式马达驱动器和易於使用的 Motor-Expert 配置和诊断工具，这种完整的硬体-软体解决方案可实现 98.2% 的效率，将电路板空间减少 70% 以上，并且电流回授电路只需要三个元件，而在分离式解决方案中需要 30 个元件 |
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中央大学携手是德 建立第三代半导体研发暨测试开放实验室 (2021.09.28)
是德科技（Keysight）携手国立中央大学光电科学研究中心（National Central University Optical Sciences Center），共同合作提高了GaN、SiC应用研发及测试验证之效率，并加速5G基建及电动车创新之步伐 |
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HOLTEK新推出高抗干扰A/D Touch MCU--BS84B04C (2021.08.26)
盛群(Holtek) Enhanced Touch A/D Flash MCU系列新增BS84B04C，延续BS84xxxC系列的抗干扰特性，8/10-pin封装与BS83x04C相容。提供比BS83x04C更丰富的系统资源，并支援16-pin WLCSP小型封装，可提供客户升级的选择 |
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考量缺陷可能性 将车用IC DPPM降至零 (2021.07.12)
为了满足现今车用对于DPPM的要求，半导体厂商合作开发出的新方法，能够根据发生实体缺陷的可能性进行模式价值评估，并依模式计算与故障相关的总关键面积（TCA）。 |
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HOLTEK推出BS83A04C低功耗的Enhanced Touch MCU (2020.05.20)
Holtek新一代高抗干扰能力Enhanced Touch I/O Flash MCU系列，新增系列成员BS83A04C，特别诉求低功耗特性，适合应用於需求低功耗的产品、各项家电及消费性产品，如蓝芽耳机、移动电源、智能手环、饮水机、空气清净机、厨房秤等触控按键应用 |
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HOLTEK推出BS83A01C高抗干扰能力的I/O Touch MCU (2019.11.04)
Holtek新一代具高抗干扰能力的I/O Flash Touch MCU系列新增型号BS83A01C，内含可通过CS(Conductive Susceptibility)10V动态测试的单触摸键和可多次编程的Flash，工作电压范围1.8V~5.5V，本型号高度集成内建HIRC与LIRC无须额外的外部元件，应用中可动态切换内振频率优化反应速度及降低功耗，最多4个可弹性应用之I/O， 封装提供薄型6DFN(2x2x0.35mm)、SOT23-6及8SOP |
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HOLTEK推出高抗干扰能力的Enhanced Touch A/D Flash MCU BS66F340C及BS66F350C (2019.11.01)
Holtek推出Enhanced Touch A/D Flash MCU系列最新成员BS66F340C及BS66F350C，提供最多20个具高抗干扰能力触摸键，内建最新Enhanced Touch Key Engine，增强Touch Key演算法执行效率，程式空间及系统资源充裕，适用於需求多触摸键、温度侦测及带LED显示产品使用，例如电陶炉桌、料理机、电饭偾等 |
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HOLTEK推出BS66F360C高抗干扰能力的Enhanced Touch A/D MCU (2019.11.01)
Holtek全新推出Enhanced Touch A/D Flash MCU系列最新成员BS66F360C，具备28个具高抗干扰能力触摸键，内建最新Enhanced Touch Key Engine，增强Touch Key演算法执行效率，程式空间及系统资源充裕，适用於需求多触摸键、温度侦测及带LED显示的产品使用，如电暖桌、料理机、电饭偾等 |
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HOLTEK推出BS67F350C高抗干扰能力的Enhanced Touch A/D LCD MCU (2019.09.04)
Holtek新一代具高抗干扰能力Enhanced Touch A/D LCD Flash MCU系列推出新型号BS67F350C，提供24个具高抗干扰能力的触摸键，内建最新的Enhanced Touch Key Engine，强化Touch Key演算法的执行效率；充足的程式空间及丰富的系统资源，特别适合功能复杂并需求多触摸键、温度侦测及带LCD显示，如温控器、微波炉、电饭锅、除湿机等之产品应用 |
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是德科技宣布推出具双脉冲测试功能的动态功率元件分析仪 (2019.05.14)
是德科技（Keysight Technologies Inc.）宣布推出搭载双脉冲测试仪的新型动态功率元件分析仪（PD1500A），以提供可靠且可重复的宽能隙（WBG）半导体量测方式，并确保量测硬体与专业测试人员的安全 |
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HOLTEK新推出BS86DH12C高抗干扰能力的高压A/D Touch MCU (2018.12.05)
Holtek新推出高压A/D type Flash Touch MCU BS86DH12C，内建9V高压电路整合LDO及HVIO使PCB上零件更精简，具有极隹之性价比。
此外还提供12个具高抗干扰能力的触摸键，并加强LED驱动电流及丰富系统资源，可用极少的零件实现带触摸键、温度侦测的产品，例如料理机、豆浆机、电饭偾等，适合各种触摸键带LED显示的产品使用 |
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HOLTEK新推出BS86D20C高抗干扰能力的A/D Touch Flash MCU (2018.12.05)
Holtek新一代具高抗干扰能力的A/D Type Touch Flash MCU系列新增型号BS86D20C，新型号提供最多20个具高抗干扰能力的触摸键，同时加强LED驱动电流，并提供丰富的系统资源，特别适合需求较多触摸键、温度侦测及带LED显示的产品使用，例如电压力锅、料理机、电饭偾等及各带LED显示的家电使用 |
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HOLTEK新推出BS83A02C高抗干??能力的I/O Touch MCU (2018.12.05)
Holtek新一代具高抗干扰能力的I/O Type Touch Flash MCU系列新增型号BS83A02C，本型号特别提供薄型的6DFN封装，厚度仅有0.35mm，特别适合要求体积小、厚度薄的应用，如智慧卡、智能手环、电子门锁等 |
