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安捷伦于IPC APEX EXPO发表模块化汽车功能测试 (2011.04.14)
安捷伦科技（Agilent）于日前宣布，已在拉斯韦加斯登场的IPC APEX EXPO展会中，展示旗下新的模块化PXI型TS-8900汽车功能测试系统。安捷伦表示，该测试系统为制造中/高脚数电子控制单元的厂商，提供一个产能高出20%的标准平台 |
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安捷伦与GOEPEL连手发表边界扫描模块 (2010.07.04)
安捷伦科技（Agilent）与GOEPEL electronic GmbH于日前共同宣布，推出N1807A-001安捷伦公用程序卡适用的UCM3070边界扫描插入式模块，该卡为Agilent Medalist i3070系列5内电路测试仪器 (ICT) 的一个选项 |
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安捷伦内电路测试解决方案获二项技术大奬 (2010.05.20)
安捷伦科技（Agilent）于日前宣布，旗下的 Agilent Medalist i3070系列5内电路测试（ICT）解决方案，在4月底的2010年上海Nepcon贸易展中获得两项技术大奖。这些奖项旨在表彰产品的创新和可靠性，对改善现今成熟的SMT制造环境中的产品质量所做的贡献 |
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安捷伦推出整合边界扫描和VTEP技术 (2008.03.11)
安捷伦科技（Agilent）宣布将为内电路测试（ICT）用户提供一个创新的方法，让他们在接触受限的空间内测试印刷电路板组件（PCBA），而不会牺牲测试涵盖率或产品上市时程，时可省下夹具的成本及减少测试资源 |
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ASSET与安捷伦宣布整合内电路与JTAG测试 (2007.08.28)
国际边界扫描（JTAG/IEEE 1149.1）测试和系统内编程（ISP）厂商ASSET InterTech Inc.与安捷伦科技（Agilent Technologies Inc.）宣布将扩大双方长期的销售、营销与授权合作协议。根据该协议，ASSET的ScanWorks JTAG系统会整合到安捷伦的3070、Medalist i5000和较新版i3070内电路测试（ICT）系统中，以构成完善的JTAG解决方案 |
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安捷伦推出ENA系列RF网络分析仪 (2006.11.13)
安捷伦科技（Agilent）所发表旗下的ENA系列RF网络分析仪，正式宣告了RF网络分析新标准的诞生。Agilent ENA系列拥有高的效能、向下延伸的频率范围及同级产品中最快的速度，是制造与研发工程师评估9 kHz到8.5 GHz之RF组件和电路的理想解决方案 |
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IR发表IRIS系列整合开关器 (2001.07.02)
国际整流器公司(IR)，推出将HEXFET功率MOSFET与控制器IC整合于单一封装的全新IRIS系列高效率低成本整合开关器(Integrated Switchers)。IRIS整合开关器系列不仅简化电路设计，更缩小了印刷电路板的使用面积；相较于AC-DC开关式供电系统(SMPS)的离散电路，可节省25%组件数量，而效率却更为优异 |
