OFDM射頻缺陷問題與基頻補償技術

2010年10月05日 星期二 【科技日報報導】
活動名稱: OFDM射頻缺陷問題與基頻補償技術
開始時間: 十月五日(二) 09:00 結束時間: 十月五日(二) 16:00
主辦單位: 工研院產業學院
活動地點: 台北學習中心科技大樓6樓-北市和平東路二段106號6樓
聯絡人: 江小姐 聯絡電話: 02-27377491
報名網頁: http://college.itri.org.tw/SeminarView1.aspx?no=23100740&msgno=306156
相關網址:

�s�i

正交分頻多工(OFDM)技術已成為新的無線通訊應用中最熱門之傳輸調變選擇,而使用OFDM技術可增加頻寬、降低干擾、提高保密性並解決多路徑衰減等通訊障礙。由於 OFDM 系統採用多載波調變方式,因此射頻系統的設計面臨許多嚴峻的挑戰,例如在非線性放大器的設計規格上,I/Q 匹配的問題,以及相位雜訊的影響等等。此課程即針對上述在 OFDM 系統中射頻缺陷問題作探討,並且介紹一些可行的基頻補償技術,以幫助在射頻與基頻設計的工程師解決實務射頻缺陷的問題。


關鍵字: 工研院產業學院